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Apparatus for measurement of reflection density

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/55
출원번호 US-0331121 (1989-03-31)
우선권정보 JP-0080396 (1988-04-01)
발명자 / 주소
  • Uekusa Tadashi (Kanagawa JPX)
출원인 / 주소
  • Fuji Photo Film Co., Ltd. (Kanagawa JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 17  인용 특허 : 6

초록

An apparatus for measurement of optical reflection density of a surface of an article, such as a color developed analytical tape for clinical test. The apparatus comprises a support for supporting the article, a source of pulsed light and two light detectors. An optical guide directs the pulsed ligh

대표청구항

An apparatus for measurement of optical reflection density of a clinical analytical tape comprising: a flash lamp which emits a pulsed light; a light-transmissive flat support for supporting the tape on one surface thereof, said support having a reflectance which permits reflection of 4-15% of said

이 특허에 인용된 특허 (6)

  1. Knight John H. G. (New Malden GB2) Griffiths David (Claygate GB2), Analytical optical instruments.
  2. Pollard John H. (Alexandria VA), Material analysis using reflected light.
  3. Bruschi ; Barbara J., Multilayer analytical element.
  4. Mihalow Frederick A. (Allentown PA), Optical attenuation monitor system and method.
  5. Kummer Emanuel (Gossau CHX), Process and apparatus for measuring the brightness of mill-comminuted products, especially flour.
  6. Schumann ; Jr. Paul A. (Wappingers Falls NY) Tong Alvin H. (Poughkeepsie NY), Textile color analyzer calibration.

이 특허를 인용한 특허 (17)

  1. Roth G. Thomas ; Paolini Gregory P., Blood fluid characteristics analysis instrument.
  2. Roth G. Thomas ; Paolini Gregory P., Blood fluid characteristics analysis instrument.
  3. Dosmann Andrew (Granger IN) Johnson Rick J. (Elkhart IN), Diffused light reflectance readhead.
  4. Gilmour,Steven B.; Modzelewski,Brent E., Distinguishing test types through spectral analysis.
  5. Modzelewski, Brent E.; Gilmour, Steven B., Distinguishing test types through spectral analysis.
  6. Bernd Stenkamp DE, Light source, optical window, and detector configuration for measurement of a medium.
  7. Modzelewski, Brent E.; Gilmour, Steven B.; Roth, G. Thomas; Bell, Douglas E., Method for determining concentration of an analyte in a test strip.
  8. Paolini, Gregory P.; Roth, G. Thomas; Modzelewski, Brent E., Method of strip insertion detection.
  9. Modzelewski, Brent; Rounds, George, Method of using a protective test strip platform for optical meter apparatus.
  10. Cizdziel, Phillip; Sohrab, Borzu; Yung, Anthony, Optical component based temperature measurement in analyte detection devices.
  11. Brent Modzelewski ; George Rounds, Protective test strip platform.
  12. Lawless, John L.; Chu, Albert E., Reflectometry system with compensation for specimen holder topography and with lock-rejection of system noise.
  13. Lawless,John L.; Chu,Albert E., Reflectometry system with compensation for specimen holder topography and with lock-rejection of system noise.
  14. Newell, Laurence J.; Coward, James F., Synchronizing nodes in an optical communications system utilizing frequency division multiplexing.
  15. Lagerman, Jordan B.; Burrows, Keith J.; Thering, Kyle R., System and method for measuring properties of a thin film coated glass.
  16. Lagerman, Jordan B.; Burrows, Keith J.; Thering, Kyle R., System and method for measuring properties of a thin film coated glass.
  17. Leach, Andrew Michael, Water hardness sensor system.
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