$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Method of modeling the assembly of products to increase production yield 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-015/46
출원번호 US-0557697 (1990-07-25)
발명자 / 주소
  • Stump Joseph W. (Smithtown NY)
출원인 / 주소
  • Grumman Aerospace Corporation (Bethpage NY 02)
인용정보 피인용 횟수 : 19  인용 특허 : 0

초록

A method for increasing the production or manufacturing yield of a product by the application of mathematical modeling techniques on the statistical distributions of major components of the product to maximize the production yield thereof. The product is assembled from a plurality of components, eac

대표청구항

A method of assembling a product assembled from a plurality of components, with the components being available from multiple manufacturing lots, to increase the yield of products having acceptable performance characteristics, comprising: a. testing significant performance parameters of components of

이 특허를 인용한 특허 (19)

  1. Hu Jun Ming, Computer program, system and method to reduce sample size in accelerated reliability verification tests.
  2. Hu Jun Ming, Computer program, system and method to specify random vibration tests for product durability validation.
  3. Lee Don Joon, Computer system and computer-implemented process for correlating product requirements to manufacturing cost.
  4. Su, Hong; Hsieh, Shang-Rou, Fatigue sensitivity determination procedure.
  5. Bauer Lowell Wilson ; Wesling Richard Alan, Floating fastener tolerance method.
  6. Dutta, Achyut; Olah, Robert, Image detecting capsule device and manufacturing thereof.
  7. Yi Min-Ho,KRX, Method for controlling a semiconductor manufacturing process by failure analysis feedback.
  8. Miller Carolyn Jeanne, Method for dispensing absorbent articles.
  9. Miller Carolyn Jeanne, Method for dispensing absorbent articles.
  10. Eichblatt,Stephen; Samuelson,Laurence, Method for evaluating processes for manufacturing components.
  11. Bouten,Petrus Cornelis Paulus; Nisato,Giovanni; Slikkerveer,Peter Jan; Van Tongeren,Henricus Franciscus Johannus Jacobus; Haskal,Eliav Itzhak; Van Der Sluis,Paul, Method for measuring a permeation rate, a test and an apparatus for measuring and testing.
  12. Bouten,Petrus Cornelis Paulus; Nisato,Giovanni; Slikkerveer,Peter Jan; Van Tongeren,Henricus Franciscus Johannus Jacobus; Haskal,Eliav Itzhak; Van Der Sluis,Paul, Method for measuring a permeation rate, a test and an apparatus for measuring and testing.
  13. Supinski, Jodi Elizabeth; Burgdorf, Brian Kenneth, Method for the selection and use of a system of feminine hygiene products.
  14. Unger Matthew Eric ; Osborn ; III Thomas Ward ; Maingot Alan Lawrence ; Zuziak Holly Marie ; Miller Carolyn Jeanne, Method for the selection of a feminine hygiene product system.
  15. McPhee,Thomas A.; Cropp,Michael E.; Diangelo,Donald; Gay,Alberto H.; Pemberton,Carmella; Saltarelli,Joseph; Volkringer,Nicholas L.; DeMarco,John J., Method of improving production through cost of yield measurement.
  16. Gadient, Ross J.; Lavretsky, Eugene; Hyde, David C., Methods and apparatus for state limiting in a control system.
  17. Eichblatt, Stephen L.; Samuelson, Laurence S., On-line process specification adjusting and component disposing based on predictive model of component performance.
  18. Aldrich,Daniel J.; Waterman,Frank M.; Andrade, III,Ignacio; Duncan, III,Horace W.; Haner,Brian D.; Jarrett,Lorna M.; Langston,Christopher L.; Maynor,Mathew A.; Meeks,Peter A.; Oliver, III,John H.; O'Meara,Regina H.; Van Booven,Kenneth W.; Waterman,Michael S.; Wade,Logan; Way,Todd D.; Worley,Chris M., System and method for creating a performance tool and a performance tool yield.
  19. Mirza Agha I., System and method of identifying the number of chip failures on a wafer attributed to cluster failures.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로