$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Three-dimensional imaging technique with occlusion avoidance 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-011/24
출원번호 US-0517779 (1990-05-02)
발명자 / 주소
  • Amir Israel (Ewing NJ)
출원인 / 주소
  • AT&T Bell Laboratories (Murray Hill NJ 02)
인용정보 피인용 횟수 : 11  인용 특허 : 0

초록

A three-dimensional image of the features on a surface (21) of a substrate (22) is obtained by first spanning the surface with a pair of lines of light (42 and 44), each directed from opposite sides to illuminate each of successive pairs of spaced-apart stripes (46,48) of surface area. The intensity

대표청구항

A method for obtaining a three-dimensional image of a substrate, with reduced incidence of occlusion of shorter features on the substrate by taller features, comprising the steps of: spanning the substrate with a first pair of lines of electromagnetic radiation directed at the substrate from opposit

이 특허를 인용한 특허 (11)

  1. Vodanovic,Bojko, Absolute position determination for a CCD-based acquisition unit.
  2. Eric P. Rudd ; David Fishbaine, Apparatus and method for estimating background tilt and offset.
  3. Rudd Eric P. ; Fishbaine David, Apparatus and method for estimating background tilt and offset.
  4. Hada Junichi,JPX ; Sano Kimiaki,JPX ; Tanabe Atsushi,JPX, Electronic component installation method.
  5. Tseng, Kun-Lung; Lin, Ming-Hui; Yang, Shih-Wen, Measurement system comprising angle adjustment module.
  6. Rudd Eric P. ; Fishbaine David ; Haugen Paul R. ; Kranz David M., Method and apparatus for three dimensional imaging using multi-phased structured light.
  7. Gunnar Bostrom SE; Hans Ahlen SE; Mattias Johannesson SE; Simon Sandgren SE, Method and device for inspecting objects.
  8. Ohmer, Herve, Method for mapping geometrical features with opto-electronic arrays.
  9. Inoue Mitsuji,JPX, Method for measuring heights of bumps and apparatus for measuring heights of bumps.
  10. Krishnan, Shankar; Pohlhammer, Christopher M.; Green, Michael P., Substrate thickness determination.
  11. Svetkoff Donald J. ; Rohrer Donald K. ; Kelley Robert W., Triangulation-based 3-D imaging and processing method and system.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로