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Insulated gate transistor devices with temperature and current sensor 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G05F-003/26
  • H01L-029/78
출원번호 US-0585847 (1990-09-20)
발명자 / 주소
  • Zommer Nathan (Los Altos CA)
출원인 / 주소
  • IXYS Corporation (San Jose CA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 26  인용 특허 : 0

초록

A technique for sensing the temperature of power MOS devices contemplates a main transistor and monolithically formed sense transistor. A resistor, which may integrated into the device or may be off chip, is connected between the respective source nodes of the main transistor and the sense transisto

대표청구항

A semiconductor device in combination with temperature sensing circuitry comprising: a first insulated gate transistor having a first drain node, a first gate node, and a first source node; a second insulated gate transistor, monolithic with and much smaller than said first transistor, having a seco

이 특허를 인용한 특허 (26)

  1. Godbole, Kedar; Rai, Hariom; Meng, Anita, Adaptive gate driver strength control.
  2. Vollertsen, Rolf-Peter, Apparatus and method for measuring local surface temperature of semiconductor device.
  3. Inoue, Katsumi; Yamada, Atsushi, Circuit device and electronic apparatus.
  4. Polce, Nestore; Clark, Ronald P.; Zommer, Nathan, Discrete and integrated photo voltaic solar cells.
  5. Pollack, Richard Stephen, Encapsulation package and method of packaging an electronic circuit module.
  6. Hall,Jefferson W.; Quddus,Mohammed Tanvir, High voltage sensor device and method therefor.
  7. Takahashi Hideki,JPX ; Nishihara Hidenori,JPX ; Harada Masana,JPX ; Minato Tadaharu,JPX, Insulated gate semiconductor device and manufacturing method thereof.
  8. Takahashi Hideki,JPX ; Nishihara Hidenori,JPX ; Harada Masana,JPX ; Minato Tadaharu,JPX, Insulated gate semiconductor device and manufacturing method thereof.
  9. Embree Milton Luther, Integrated circuit thermal shutdown system utilizing a thermal sensor.
  10. Pricer Wilbur ; Goodnow Kenneth Joseph ; Michail Michel S. ; Patel Janak Ghanshyambhai ; Ventrone Sebastian T., Integrated hot spot detector for design, analysis, and control.
  11. Ueda Nobumasa,JPX, Load current supply circuit having current sensing function.
  12. Molander Mats Erik,SEX, Method and arrangement for measuring temperature of a semiconductor component in an inactive state.
  13. Donald Lee Black ; Robert Walter Brown ; Richard Stephen Pollack ; Dale Lee Yones, Method for measuring temperature with an integrated circuit device.
  14. Hall, Jefferson W.; Quddus, Mohammed Tanvir, Method of forming a high voltage sense element.
  15. Hall, Jefferson W.; Quddus, Mohammed Tanvir, Method of sensing a high voltage.
  16. Chou, Wu-Chun; Davis, Michael Eugene; McClay, Charles Phillip, On-chip built-in test and operational qualification.
  17. Yones, Dale Lee; Pollack, Richard Stephen; Black, Donald Lee; Brown, Robert Walter, Pneumatic tire having transponder and method of measuring pressure within a pneumatic tire.
  18. Hersel, Walter; Breitling, Wolfram; Weible, Reinhold; Falliano, Rolf, Power MOS transistor with overtemperature protection circuit.
  19. Franchini, Christelle; Delage, Murielle; Huot-Marchand, Alexis Nathanaël, Semiconductor device and power circuit including a sense transistor for current sensing.
  20. Krishnan,Anand T.; Krishnan,Srikanth; Reddy,Vijay; Chancellor,Cathy, System and method for accurate negative bias temperature instability characterization.
  21. Qian, Lewei, System and method to thermally protect a transistor in an electric drive vehicle.
  22. Schnaitter, William N., System for on-chip temperature measurement in integrated circuits.
  23. Clemente Stefano, Temperature detection of power semiconductors performed by a co-packaged analog integrated circuit.
  24. Peng, Yung-Chow; Kundu, Amit; Liu, Szu-Lin; Horng, Jaw-Juinn, Temperature detector and controlling heat.
  25. Botti,Edoardo; Cagnetti,Fabio, Thermal protection device for an integrated power MOS.
  26. Shibib, M. Ayman; Zhang, Wenjie, Vertical sense devices in vertical trench MOSFET.
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