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High velocity gas particulate sampling system 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-001/00
출원번호 US-0625344 (1990-12-11)
발명자 / 주소
  • Tuthill Wallace C. (422 Tallowood Seabrook TX 77586)
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 0

초록

A gas sampling system for determining particulate matter contamination in a high velocity gas flow where the sampling chamber is first cleaned, then evacuated and is coupled by a closed three way valve in a straight line relationship to the gas supply line. The operating gas flow rate is established

대표청구항

A high velocity gas sampling apparatus including: gas sample chamber receiving a dynamic gas flow while in an evacuated condition; first means for selectively coupling a dynamic gas flow in an in-line flow relationship to one end of said gas sample chamber by use of a valve; second means at the othe

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Evenson Euan J.,CAX ITX L7L 2M7, Method and apparatus for sampling and analysis of furnace off-gases.
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