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특허 상세정보

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Method and apparatus for leak testing

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01M-003/26   
미국특허분류(USC) 364/57103 ; 364/507 ; 364/558 ; 73/40
출원번호 US-0493213 (1990-03-14)
발명자 / 주소
출원인 / 주소
인용정보 피인용 횟수 : 24  인용 특허 : 0
초록
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A method of and apparatus for testing the chamber of a test part for leaks in which the chamber is filled with gas under pressure and the differential pressure drop over a predetermined interval of time is determined. The temperature of the part being tested is determined, and a storage table of correction values corresponding to the estimated differential pressure drop attributable to the temperature of the part is provided. The correction value for the temperature of the part is selected from the storage table and substracted from the measured differen...

대표
청구항
▼

A method of testing the chamber of a test part for leaks, comprising filling said chamber with gas under pressure, determining the differential pressure drop of the gas in said chamber over a predetermined interval of time, determining the temperature of the part being tested, providing a storage table of correction values corresponding to the estimated differential pressure drop of gas pressure in said chamber attributable to the temperature of the part, selecting from said storage table the correction value for the temperature of said part being tested...

이 특허를 인용한 특허 피인용횟수: 24

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