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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0532481 (1990-06-04) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 288 인용 특허 : 0 |
A full wafer integrated circuit testing device (10) tests integrated circuits (15) formed as a wafer in conjunction with a test control unit (40). Probe units (14) associate with respective integrated circuits (15). Probe tips (16) on probe units (14) communicate with respective pads (19) with the i
An integrated circuit testing device simultaneously connected to a plurality of subject integrated circuits for testing substantially all of said plurality of subject integrated circuits formed on a semiconductor wafer, said testing device connected to and operating in conjunction with a test contro
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