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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0553340 (1990-07-17) |
우선권정보 | JP-0186951 (1989-07-19); JP-0053086 (1990-03-05) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 24 인용 특허 : 0 |
An overheating detection circuit has a simple circuit construction and may be formed in the same substrate as that of a power integrated circuit. It can produce a large output signal in response to detection of a temperature within a preselected range of detection temperatures. The circuit includes
An overheating detection circuit for detecting an overheating of a power integrated circuit, said power integrated circuit being formed in a substrate, comprising: a reversely biased junction having a reverse leakage current, said reverse leakage current being temperature dependent; means for amplif
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