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Contact potential difference cell 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01M-014/00
출원번호 US-0638222 (1991-01-07)
발명자 / 주소
  • Brown Paul M. (10492 Summerwind Boise ID 83704)
인용정보 피인용 횟수 : 24  인용 특허 : 0

초록

An electrical energy generating device which utilizes the potential difference between two dissimilar materials having different work functions and the ionizing properties of radioactive decay products is provided. A current generating cell includes a pair of electrodes of electro-chemically dissimi

대표청구항

An apparatus for generating electrical energy comprising: first and second spaced electrodes, said first and second electrodes of dissimilar materials having different work functions; and a solid dielectric medium disposed between said first and second electrodes, said solid dielectric medium compri

이 특허를 인용한 특허 (24)

  1. Batchelder, Geoffrey D., Betavoltaic power converter die stacking.
  2. Schulze, Mark A.; Usry, William R., Calibration of non-vibrating contact potential difference measurements to detect surface variations that are perpendicular to the direction of sensor motion.
  3. Danyluk, Steven; Zharin, Anatoly, Contact potential difference ionization detector.
  4. Hamilton, Ian Christopher, Device for converting radiation energy to electrical energy.
  5. Kwon, Jae Wan; Wacharasindhu, Tongtawee; Robertson, John David, High energy-density radioisotope micro power sources.
  6. Spencer, Michael; Chandrashekhar, MVS, High power density betavoltaic battery.
  7. Batchelder, Geoffrey D., High-energy beta-particle source for betavoltaic power converter.
  8. Steele, M. Brandon; Hawthorne, Jeffrey Alan, Inspection system and apparatus.
  9. Steele,M. Brandon; Hawthorne,Jeffrey Alan, Inspection system and apparatus.
  10. Steele,M. Brandon; Hawthorne,Jeffrey Alan, Inspection system and apparatus.
  11. Steele,M. Brandon; Hawthorne,Jeffrey Alan; Kim,Chunho; Sowell,David C., Inspection system and apparatus.
  12. Danyluk, Steven; Zharin, Anatoly; Schmidt, Jr., Parbury P, Ionization contact potential difference gyroscope.
  13. Brown Paul M. ; Herda Patrick G., Isotopic semiconductor batteries.
  14. Brown Paul M., Layered metal foil semiconductor power device.
  15. Putnam,Everly Dean, Layered nuclear-cored battery.
  16. Hawthorne,Jeffrey Alan; Steele,M. Brandon, Measurement of motions of rotating shafts using non-vibrating contact potential difference sensor.
  17. Danyluk,Steven; Zharin,Anatoly; Zanoria,Elmer; Reid,Lennox; Hamall,Kenneth, Non vibrating capacitance probe for wear monitoring.
  18. Tsang, Francis Yu-Hei; Juergens, Tristan Dieter; Harker, Yale Deon; Kwok, Kwan Sze; Newman, Nathan; Ploger, Scott Arden, Nuclear voltaic cell.
  19. Hawthorne, Jeffrey Alan; Steele, M. Brandon; Yang, Yeyuan; Schulze, Mark, Semiconductor inspection system and apparatus utilizing a non-vibrating contact potential difference sensor and controlled illumination.
  20. Steele, M. Brandon; Hawthorne, Jeffrey Alan, Semiconductor wafer inspection system.
  21. Steele,M. Brandon; Hawthorne,Jeffrey Alan, Semiconductor wafer inspection system.
  22. Steele,M. Brandon; Hawthorne,Jeffrey Alan, Semiconductor wafer inspection system.
  23. Schinella Richard D. (Saratoga CA) Chao Keith (San Jose CA), Use of reticle stitching to provide design flexibility.
  24. Steele,M. Brandon; Hawthorne,Jeffrey Alan; Kim,Chunho; Sowell,David C., Wafer inspection system.
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