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Liquid film interface cooling system for semiconductor wafer processing 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H05K-007/20
출원번호 US-0691628 (1991-04-25)
발명자 / 주소
  • del Puerto Santiago E. (Milton NY) Gaschke Paul M. (Pleasantville NY)
출원인 / 주소
  • International Business Machines Corporation (Armonk NY 02)
인용정보 피인용 횟수 : 13  인용 특허 : 0

초록

A semiconductor wafer, liquid interface clamping and cooling system 80 includes a chuck 10 having clamping section 12 with a top surface 16 with three clamping/cooling circuit grooves machined therein for providing a liquid interface between a wafer under test and the top surface 16. A bottom surfac

대표청구항

A cooling system for a substrate comprising: a chuck having a top and a bottom, said top having a liquid interface cooling circuit means adapted to provide a liquid interface between said chuck and the substrate, said liquid interface cooling circuit means having an input means and an output means;

이 특허를 인용한 특허 (13)

  1. Kuo, Yang-Kuao, Apparatus and method for controlling wafer temperature.
  2. Saeki, Masayuki; Oikawa, Hironori; Hizono, Takeshi, Computer having cooling device.
  3. Chang, Yi, Electrostatic chuck and temperature-control method for the same.
  4. Phillips Bobby M. ; Bagrodia Shriram, Fibers capable of spontaneously transporting fluids.
  5. Loopstra, Erik Roelof; Ottens, Joost Jeroen, Lithographic apparatus and device manufacturing method.
  6. Straaijer,Alexander, Lithographic apparatus and device manufacturing method.
  7. Fregeau, Dustin; Gardell, David L.; Kosbar, Laura L.; Stevens, Keith C.; Wagner, Grant W., Methodologies and test configurations for testing thermal interface materials.
  8. Fregeau, Dustin; Gardell, David L.; Kosbar, Laura L.; Stevens, Keith C.; Wagner, Grant W., Methodologies and test configurations for testing thermal interface materials.
  9. Schuster, Karl-Heinz; Wagner, Christian, Reticle with crystal support material and pellicle.
  10. Dhindsa Rajinder, Solid state temperature controlled substrate holder.
  11. De Jong, Hendrik Jan, Substrate support structure, clamp preparation unit, and lithography system.
  12. Haskett,Bradley M., System and method for testing a lighting diode.
  13. Erwin, Brian M.; Gardell, David L.; Humenik, James N.; Kumar, Rajneesh; Lawson, John, Thermal interface material, test structure and method of use.
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