$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Method for widening the laser planarization process window for metalized films on semiconductor wafers 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01L-021/268
출원번호 US-0622935 (1990-12-06)
발명자 / 주소
  • Yu Chang (Boise ID)
출원인 / 주소
  • Micron Technology, Inc. (Boise ID 02)
인용정보 피인용 횟수 : 8  인용 특허 : 0

초록

The invention relates to taking advantage of increasing the boiling point of a material by increasing pressure within the processing chamber, which will then push the optical ablation limit to a higher optical fluence (laser intensity). A method in accordance with the invention of planarizing a meta

대표청구항

A method of planarizing a metallic film on a semiconductor wafer using laser energy, the method comprising: injecting an inert gas into a laser planarization chamber to provide a desired pressure within the chamber which is above 1 Torr; and selectively applying laser energy to the metallic film wit

이 특허를 인용한 특허 (8)

  1. Roberts Ceredig ; Srinivasan Anand ; Sandhu Gurtej ; Sharan Sujit, Facet etch for improved step coverage of integrated circuit contacts.
  2. Roberts Ceredig ; Srinivasan Anand ; Sandhu Gurtej ; Sharan Sujit, Facet etch for improved step coverage of integrated circuit contacts.
  3. Roberts Ceredig ; Srinivasan Anand ; Sandhu Gurtej ; Sharan Sujit, Facet etch for improved step coverage of integrated circuit contacts.
  4. Gurovich Boris Aronovich,RUX ; Dolgy Dmitry Iosifivich,RUX ; Velikhov Evgeny Pavlovich,RUX ; Kuleshova Evgenia Anatolievna,RUX ; Aronzon Boris Aronovich,RUX ; Meilikhov Evgeny Zalmanovich,RUX ; Ryaza, Method of forming a conducting structure.
  5. Matsuda Tetsuo (Poughkeepsie NY) Okumura Katsuya (Poughkeepsie NY), Method of planarizing a semiconductor workpiece surface.
  6. Anand Srinivasan ; Gurtej Sandhu ; Sujit Sharan, Removal of metal cusp for improved contact fill.
  7. Srinivasan Anand ; Sandhu Gurtej ; Sharan Sujit, Removal of metal cusp for improved contact fill.
  8. Srinivasan Anand ; Sandhu Gurtej ; Sharan Sujit, Removal of metal cusp for improved contact fill.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로