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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0664640 (1991-03-05) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 10 인용 특허 : 0 |
Flaws in an electrically conductive sample object are detected by cancelling the magnetic field generated by a detection current passed through the sample object by passing the current back through an unflawed field cancelling object placed next to the sample object, and measuring the uncancelled fi
A method of detecting flaws in an electrically conductive sample object comprising the steps of: placing an unflawed electrically conductive field cancelling object in spaced relation adjacent said sample object; passing a current through said sample object in one direction and back through the fiel
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