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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0588909 (1990-09-27) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 39 인용 특허 : 0 |
A method and apparatus for detecting a defect in a workpiece are disclosed. The workpiece is positioned with a surface of the workpiece to be inspected in an optical path of an infrared radiation detector. A selected portion of the workpiece is heated by scanning with electromagnetic radiation for a
A method for detecting a defect in a workpiece, comprising the steps of: (a) positioning a surface of the workpiece to be inspected in an optical path of an infrared radiation detector; (b) generating a graph of irradiance versus distance along a selected portion of the workpiece to establish an ori
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