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Search technique for identifying slave devices connected to a serial bus 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H04Q-009/00
출원번호 US-0836676 (1986-03-05)
발명자 / 주소
  • Bishop Thomas S. (Woodland Park CO)
출원인 / 주소
  • Ampex Corporation (Redwood City CA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 27  인용 특허 : 0

초록

A slave device detecting system utilizes the past history of devices connected to a data bus to optimize the time required to re-establish communications. Whenever a master controller senses a condition that requires an assessment of devices on the bus, it examines the addresses of previously connec

대표청구항

In a data transmission system in which a master controller communicates with one or more slave devices by means of a data bus and in which the master controller detects the presence of a device on the bus by requesting responses from device addresses on the bus and stores the address of each respond

이 특허를 인용한 특허 (27)

  1. Lee D. Whetsel, Addressable shadow port circuit.
  2. Donaghey, Robert J, Automatic attachment and detachment for hub and peripheral devices.
  3. Donaghey, Robert J., Automatic attachment and detachment for hub and peripheral devices.
  4. Whetsel, Jr., Lee D., Boundary scan test cell circuit.
  5. Whetsel,Lee Doyle, Circuit with expected data memory coupled to serial input lead.
  6. Falls, S. Douglas; Dale, Ernest J.; Matheson, Rod, Electronic product information display system.
  7. Falls, S. Douglas; Dale, Ernest J.; Matheson, Rod; McPhillips, A. Scott, Electronic product information display system.
  8. Hsueh, Canning; Butler, Jr., J Harold; Lucas, Robert E.; McIntire, John P., Enhanced retry method.
  9. Whetsel, Lee D., Hierarchical linking module connection to access ports of embedded cores.
  10. Whetsel, Jr., Lee D., IC test cell with memory output connected to input multiplexer.
  11. Whetsel,Lee Doyle, IC with protocol selection memory coupled to serial scan path.
  12. Whetsel, Lee Doyle, IC with serial scan path, protocol memory, and event circuit.
  13. Whetsel, Lee D., IC with shared scan cells selectively connected in scan path.
  14. Whetsel, Jr., Lee D., Instruction register and access port gated clock for scan cells.
  15. Whetsel, Jr., Lee Doyle; Ashmore, Jr., Benjamin H., Integrated circuit with serial I/O controller.
  16. Choi Hwangsoo ; Kwong Manpo ; Shin Seong S., Intelligent power circuit for external data drive.
  17. Donaghey, Robert J, Personal area network apparatus.
  18. Donaghey, Robert J., Personal area network apparatus.
  19. Donaghey, Robert J, Personal area network with automatic attachment and detachment.
  20. Whetsel, Lee D., Position independent testing of circuits.
  21. Whetsel, Lee D., Process of testing a semiconductor wafer of IC dies.
  22. Whetsel, Lee D., Scan circuit low power adapter with counter.
  23. Whetsel,Lee Doyle, Scanning a protocol signal into an IC for performing a circuit operation.
  24. Whetsel,Lee D.; Haroun,Baher S.; Lasher,Brian J.; Kinra,Anjali, Selecting different 1149.1 TAP domains from update-IR state.
  25. Miyoshi, Takashi, Switch system, sub-switch and method of controlling switch system.
  26. Dale, Ernest James; Eichenser, Barbara Clark, System and method for managing compliance with retail display regulations across a plurality of jurisdictions.
  27. Clemens Bruce P. ; Mohammed Mannan A. ; Kumar Sasi, Using multiple serial bus devices with a driver program.
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