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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0582383 (1990-09-14) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 124 인용 특허 : 0 |
A diagnostic tester evaluates at least one inputted test signal corresponding to test data relating to at least one predetermined parameter of a system being tested, to produce first and second candidate signals corresponding respectively to first and second possible diagnoses of the condition of th
An improved electronic diagnostic tester for evaluating a failure state of a system having a defined number of functional elements, said diagnostic tester comprising: an electronic signal input interface for providing electronic test signals; evaluating means, responsive to at least one inputted tes
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