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EPROM virtual ground array 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01L-021/285
  • H01L-021/76
출원번호 US-0537553 (1990-06-13)
발명자 / 주소
  • Kazerounian Reza (Alameda CA) Eitan Boaz (Sunnyvale CA) Irani Rustom F. (Santa Clara CA)
출원인 / 주소
  • Waferscale Integration, Inc. (Fremont CA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 20  인용 특허 : 0

초록

An electrically programmable read only memory contains alternating metal bit lines and diffused bit lines. Each diffused bit line is broken into a plurality of segments. Each of the segments of the diffused bit line comprises a virtual source. A multiplicity of floating gate transistors are arranged

대표청구항

The method of manufacturing a floating gate transistor in an array of such floating gate transistors comprising: forming a gate oxide on a semiconductor substrate; forming in a first direction on said gate oxide a plurality of strips of material, each strip comprising a conductive material covered b

이 특허를 인용한 특허 (20)

  1. Tomita,Yasuhiro, Driving method of nonvolatile memory and nonvolatile memory used in the same method.
  2. Kazerounian Reza, Dual bit memory cell.
  3. Tomita,Yasuhiro; Suwa,Hitoshi; Komiya,Manabu; Toth,Tamas; Jacob,Jeffrey Allan; Parvin,Avi; Eshel,Noam, Flash memory and program verify method for flash memory.
  4. Sethi Rakesh Balraj ; Norris Christopher S. ; Hu Genda J., High speed flash memory cell structure and method.
  5. Hazani Emanuel (1210 Sesame Dr. Sunnyvale CA 94887), Memory with isolatable expandable bit lines.
  6. Woo, Won Sic, Method for manufacturing semiconductor device and the device thereof.
  7. Woo,Won Sic, Method for manufacturing semiconductor device and the device thereof.
  8. Moriyama, Wakako; Kai, Naoki; Hazama, Hiroaki; Nagai, Keiki; Fukazawa, Yuji; Saki, Kazuo; Ozawa, Yoshio; Suizu, Yasumasa, Method for manufacturing semiconductor devices using thermal nitride films as gate insulating films.
  9. Erh-Kun Lai TW; Chien-Hung Liu TW; Shyi-Shuh Pan TW; Shou-Wei Huang TW; Ying-Tso Chen TW, Method of forming an NROM embedded with mixed-signal circuits.
  10. Son,Ho Min, Method of forming oxide layer in semiconductor device.
  11. Ghneim Said N. ; Fulford ; Jr. H. Jim, Method of making non-volatile memory device having a floating gate with enhanced charge retention.
  12. Ghneim Said N. ; Fulford ; Jr. H. Jim, Non-volatile memory device having a floating gate with enhanced charge retention.
  13. Ueda,Naoki; Sugita,Yasuhiro; Yamauchi,Yoshimitsu, Non-volatile semiconductor memory and process of fabricating the same.
  14. Oikari James R. ; Olson Erik D., Process for enhanced photoresist removal in conjunction with various methods and chemistries.
  15. Brent Keeth, Reduced area sense amplifier isolation layout in a dynamic RAM architecture.
  16. Keeth, Brent, Reduced area sense amplifier isolation layout in a dynamic RAM architecture.
  17. Keeth, Brent, Reduced area sense amplifier isolation layout in a dynamic RAM architecture.
  18. Kazerounian Reza ; Irani Rustom F. ; Eitan Boaz,ILX, Scalable EPROM array.
  19. Ngo,Minh Van; Halliyal,Arvind; Kamal,Tazrien; Shiraiwa,Hidehiko; Sugino,Rinji; Hopper,Dawn; Gao,Pei Yuan, Semiconductor memory with data retention liner.
  20. Te-Long Chiu, Trench-isolated EEPROM flash in segmented bit line page architecture.
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