[특허]Nondestructive inspection system for laminated products

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IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	G01N-029/24
출원번호	US-0675481 (1991-03-26)
발명자 / 주소	Wertz Ronald D. (Boulder CO) Horacek Stephen M. (Louisville CO) Minet H. Kent (Littleton CO) Cormack Robert (Boulder CO)
출원인 / 주소	Ball Corporation (Muncie IN 02)
인용정보	피인용 횟수 : 15 인용 특허 : 0

초록 ▼

An apparatus and method for inspecting multilayer articles. An article to be inspected is clamped in a liquid filled tank between a pair of focused transducers. An ultrasonic pulse is introduced to a cross section of the article from each transducer sequentially. Reflections from the surfaces and interfaces within the article are received by each transducer and transmitted to a computer for analysis. The thicknesses of the innermost layers of the article are determined by calculating the mean of the measurements from each transducer for each inner layer.

대표청구항 ▼

An apparatus for inspecting a multilayer object, comprising: means for positioning the object in an inspection position; means for transmitting at least one focused acoustic pulse into the object from each of two opposing sides of the object; said positioning means including means for clamping the object proximate to a cross-section of the object to be inspected to ensure that the focused acoustic pulses are focused at respective predetermined positions within the object; means for receiving reflections of portions of the acoustic pulses from layer interfaces within the object and converting the received reflections into electrical signals; and means for analyzing the electrical signals to determine the thickness of layers in the object.

이 특허를 인용한 특허 (15)

York, Geoffrey; Shabudin, Esak, Co-injection moulding.
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MacLauchlan Daniel T. (Lynchburg VA), Electromagnetic acoustic transducer (EMAT) for ultrasonic inspection of liquids in containers.
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Koch Frank J. ; Vandervalk Leon C.,CAX ; Beamish David J.,CAX, High resolution ultrasonic thickness gauge.
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Giurgiutiu,Victor, In-situ structural health monitoring, diagnostics and prognostics system utilizing thin piezoelectric sensors.
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MacLauchlan Daniel T. ; Hancock Jimmy W., Main bang recovery EMAT.
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MacLauchlan Daniel T. ; Hancock Jimmy W., Main bang recovery EMAT.
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Palombo Thomas H. ; Ridout Gareth O., Method and apparatus for illuminating and imaging a can end coated with sealing material.
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Dubois, Marc; Lorraine, Peter William, Method and apparatus to conduct ultrasonic flaw detection for multi-layered structure.
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MacLauchlan Daniel T., Method for determining liquid level in a container using an electromagnetic acoustic transducer (EMAT).
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Batzinger, Thomas James; Gigliotti, Jr., Michael Francis Xavier; Bewlay, Bernard Patrick; Srivatsa, Shesh Krishna, Method for positioning defects in metal billets.
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Giurgiutiu,Victor; Xu,Buli, Self-processing integrated damage assessment sensor for structural health monitoring.
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Giurgiutiu, Victor; Yu, Lingyu; Bottai, Giola Santoni, Structural health monitoring apparatus and methodology.
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Giurgiutiu,Victor; Bao,Jingjing; Zagrai,Andrei N., Structural health monitoring system utilizing guided lamb waves embedded ultrasonic structural radar.
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Kim, Gil Young; Kim, Dae Choul; Seo, Young Kyo; Lee, Gwang Soo, System for measuring propagation velocity of sound wave and method of measuring propagation velocity of sound wave.
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Albu Dan,CAX ; Taboun Salem M.,CAX, Ultrasonic thickness measurement of multilayer structures.
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특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents
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