[특허]Wide FOV retro-null outgoing wavefront sensor

Wide FOV retro-null outgoing wavefront sensor 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	G01J-001/20
출원번호	US-0878144 (1992-05-04)
발명자 / 주소	Shen Gon Y. (Brookfield) Zmek William P. (Naugatuck) Shu Ker L. (New Milford CT)
출원인 / 주소	Hughes Aircraft Company (Los Angeles CA 02)
인용정보	피인용 횟수 : 25 인용 특허 : 0

초록 ▼

A wavefront sensor includes a plurality of holographic optical elements (HOEs 50) that are disposed on a surface of a mirror (12) that defines a pupil, each of the HOEs diffracting a portion of an output beam for providing an associated sample beam. An optical wavefront sensor (54) has an input that is optically coupled to each of the sample beams through a low aberration optical train and through a transfer lens (54a) that focuses the sample beams at a focal plane (FP). A detector (54b) is positioned in a plane parallel to and offset from the focal plane (focus-biased) for detecting spot images of the sample beams. Each of the HOEs has a prescribed amount of optical power associated therewith for causing the associated sample beam to be focussed by the transfer lens at the plane of the detector, and further has a prescribed amount of optical tilt associated therewith for compensating for a distortion of the sample beam due to a distortion of the pupil for different FOV angles.

대표청구항 ▼

A wavefront sensor, comprising: a plurality of beam sampling means disposed for intercepting a portion of an optical beam that is incident thereon for providing a plurality of sample beams, said plurality of beam sampling means being located at a pupil; an optical train for relaying said plurality of sample beams; transfer lens means disposed for receiving said plurality of sample beams from said optical train, said transfer lens means focussing said sample beams at a focal plane; and detector means disposed in a plane parallel to and offset from said focal plane for detecting said focussed sample beams; wherein each of said beam sampling means has an optical power associated therewith for causing an associated one of said sample beams to be focussed by said transfer lens means at the plane of the detector, each of said beam sampling means further having an optical tilt associated therewith for compensating for a distortion of an associated one of said sample beams due to a distortion of said pupil, whereby a combination of the optical power and the optical tilt results in a location of the associated one of the sample beams at the plane of the detector being primarily a function of an aberration of said optical beam, and not primarily a function of a distortion of said pupil.

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