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Device for obtaining distance information from an object by instantaneously illuminating the object by a light beam 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01C-003/00
  • G01C-003/08
  • H04N-007/00
  • H04N-007/18
출원번호 US-0853845 (1992-03-19)
우선권정보 JP-0222994 (1989-08-31)
발명자 / 주소
  • Tajima Johji (Tokyo) Sakamoto Shizuo (Tokyo JPX)
출원인 / 주소
  • NEC Corporation (Tokyo JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 12  인용 특허 : 0

초록

For obtaining distance information between an image pickup device (10) and an object (11) illuminated by a monochromatic beam selected by a diffraction grating (18) from an optical beam generated by an optical beam generator (27), a distance information obtaining device comprises an activating devic

대표청구항

A distance information obtaining device for obtaining distance information related to a distance between a predetermined position and an object, said distance information obtaining device comprising: optical beam generating means for generating an optical beam having a plurality of wavelength compon

이 특허를 인용한 특허 (12)

  1. Gordon, Eyal; Bittan, Gur Arie, 3D geometric modeling and 3D video content creation.
  2. Gordon, Eyal; Bittan, Gur Arie, 3D geometric modeling and 3D video content creation.
  3. Gordon, Eyal; Bittan, Gur Arieh, 3D geometric modeling and 3D video content creation.
  4. Golrdon, Eyal; Bittan, Gur Arie, 3D geometric modeling and motion capture using both single and dual imaging.
  5. Gordon, Eyal; Bittan, Gur Arie, 3D geometric modeling and motion capture using both single and dual imaging.
  6. Ditto, Thomas D., Chromatic diffraction range finder.
  7. Victor Yertoprakhov RU, Distance measurement apparatus.
  8. Allen, Christopher T.; Shuey, Trenton; Hui, Rongqing, Low-altitude altimeter and method.
  9. Allen, Christopher T.; Shuey, Trenton; Hui, Rongqing, Low-altitude altimeter and method.
  10. Angelina Fernández, Hania; Álvarez Ortiz, Javier; Acedo Gallardo, Pablo; Ruiz Llata, Marta; López Fernández, José Ramón, Method and system for determining a relative position to a target.
  11. Metz Juergen (Wettenberg DEX) Tiedeke Joachim (Achberg/Esseratsweiler DEX), Relative visibility measuring process and device.
  12. Ditto, Thomas D.; Knapp, James A., Slit aperture for diffraction range finding system.
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