검색연산자 | 기능 | 검색시 예 |
---|---|---|
() | 우선순위가 가장 높은 연산자 | 예1) (나노 (기계 | machine)) |
공백 | 두 개의 검색어(식)을 모두 포함하고 있는 문서 검색 | 예1) (나노 기계) 예2) 나노 장영실 |
| | 두 개의 검색어(식) 중 하나 이상 포함하고 있는 문서 검색 | 예1) (줄기세포 | 면역) 예2) 줄기세포 | 장영실 |
! | NOT 이후에 있는 검색어가 포함된 문서는 제외 | 예1) (황금 !백금) 예2) !image |
* | 검색어의 *란에 0개 이상의 임의의 문자가 포함된 문서 검색 | 예) semi* |
"" | 따옴표 내의 구문과 완전히 일치하는 문서만 검색 | 예) "Transform and Quantization" |
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) | G01B-007/00 G01B-007/31 |
미국특허분류(USC) | 33/558 ; 33/561 ; 901/10 |
출원번호 | US-0655067 (1991-02-14) |
우선권정보 | EP-0307655 (1990-07-12) |
발명자 / 주소 |
|
인용정보 | 피인용 횟수 : 19 인용 특허 : 0 |
A probe used for programming a robot arm in order to perform a cutting operation on a work-piece. During the programming operation, the probe is attached to the robot arm and moved around the profile of a test-piece. An electric lamp is provided for indicating contact between the probe and the test piece. Additional circuitry including an electric lamp is provided for indicating when the body of the probe and a pin (4) having an end tip (8) which actually forms the contracting portion of the probe are misaligned.
A probe assembly including a probe, for indicating both physical contact with an electrically conductive workpiece and misalignment of said probe in a misalignment direction, said probe assembly comprising: an elongate electrically conducting body having at least one end; an electrically conducting pin extending beyond said at least one end of said body, one of said pin and body received into a hollow portion of the other of said pin and body; non-conducting resilient means for mounting said pin with respect to said body and permitting movement of said p...