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Gap measuring device and method using frustrated internal reflection 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/86
출원번호 US-0707152 (1991-05-29)
우선권정보 JP-0139296 (1990-05-29)
발명자 / 주소
  • Sakai Takamasa (Kyoto JPX) Kouno Motohiro (Kyoto JPX) Hirae Sadao (Kyoto JPX) Nakatani Ikuyoshi (Kyoto JPX)
출원인 / 주소
  • Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. (JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 12  인용 특허 : 0

초록

A narrow gap or unevenness of a surface of a specimen is measured by utilizing the tunnel effect of a light wave reflected at a boundary plane on the condition of total reflection. A laser beam emitted from a laser source is reflected at a surface of a prism on the condition of total reflection in t

대표청구항

A device for measuring a gap between a surface of a specimen and a specific member comprising: a laser source for emitting a laser beam of linearly polarized light having a known wavelength; a light transmission reflector having a reflecting surface comprising said specific member located substantia

이 특허를 인용한 특허 (12)

  1. Parker William P. (Waitsfield VT) Guzik Nahum (Palo Alto CA) Fredkin Edward (Brookline MA), Apparatus for determining the dynamic position and orientation of a transducing head relative to a storage medium.
  2. Guzik Nahum, Apparatus for measuring the flying height and orientation of a magnetic head relative to a transparent medium based on f.
  3. Guzik Nahum, Apparatus for measuring the flying height and orientation of a magnetic head relative to transparent medium based on fru.
  4. Kono Motohiro,JPX ; Kusuda Tatsufumi,JPX, Measurement of electrical characteristics of semiconductor wafer.
  5. Noda, Masaaki, Method and apparatus for measuring gap, method and apparatus for measuring shape and method for manufacturing liquid crystal device.
  6. Kitajima,Toshikazu; Kono,Motohiro, Method and apparatus for measuring relative dielectric constant.
  7. Tassakos, Charalambos; Metge, Jan-Thomas, Method and device for adjusting gap dimensions and/or an offset between a vehicle hood and the remaining vehicle body.
  8. Okada Hiroshi,JPX ; Hirae Sadao,JPX ; Kono Motohiro,JPX, Method of determining impurity content and apparatus for the same.
  9. Hirae Sadao (Kyoto JPX) Matsubara Hideaki (Kyoto JPX) Kouno Motohiro (Kyoto JPX) Sakai Takamasa (Kyoto JPX), Non-destructive measuring sensor for semiconductor wafer and method of manufacturing the same.
  10. Mazur Robert G. ; Hillard Robert J., Noncontact capacitance measuring device.
  11. Laughlin, Richard H., Total internal reflection optical switch and method of operating the same.
  12. Gordon,Thomas J.; Ryan,William; Ross,Lawrence Lee; Ottinger,Brian D.; Holm,Richard D.; D'Amico,Nicholas; Gravett,Phillip W.; Ulerich,Nancy, Warning system for turbine component contact.
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