[특허]Jumping probe microscope

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IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	H01J-037/26
출원번호	US-0361545 (1989-06-05)
발명자 / 주소	Elings Virgil B. (Santa Barbara CA) Gurley John A. (Santa Barbara CA)
출원인 / 주소	Digital Instruments, Inc. (Santa Barbara CA 02)
인용정보	피인용 횟수 : 37 인용 특허 : 0

초록 ▼

A microscope of the scanning probe variety. This device circumvents one of the serious problems of prior art scanning probe microscopes, i.e. that the probe is always near or on the surface of the object being scanned, creating the danger of damaging the probe on the surface especially on large scans or at high scan speeds. The microscope of this invention jumps the probe over the surface, causing the probe to be near or on the surface during only a very limited portion of the scan and therefore able to scan quickly over rough surfaces without undue damage to the probe or surface. Both scanning tunneling microscopes and atomic force microscopes employing the invention are disclosed. The scanning tunneling microscope is shown with both digital and analog control of the movement of the probe.

대표청구항 ▼

In a scanning probe microscope wherein a probe tip is moved over the surface of a sample in a scan pattern comprising a series of transverse scan lines during which data reflecting a physical property of the surface is gathered at a plurality of data points to be used in constructing an image of the physical property of the surface, the method of scanning with increased speed comprising the steps of: a) moving the probe tip along each of the transverse scan lines in a series of jumps wherein the probe tip moves continuously in a lateral direction and each jump comprises, a1) determining from surface information from a preceding scan a height above the surface to which the probe tip can be raised which is sufficiently high that the chance of the probe tip striking the surface during movement of the probe tip to a next lateral position is virtually nil, a2) lifting the probe tip from a position adjacent the surface to the height above the surface determined in step (a1), a3) simultaneously moving the probe tip laterally to a next position, and a4) lowering the probe tip from the raised position to a position adjacent the surface.

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A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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