$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Pyrometer 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01J-005/60
출원번호 US-0782750 (1991-10-18)
우선권정보 JP-0141738 (1987-06-06); JP-0141739 (1987-06-06)
발명자 / 주소
  • Makino Toshiro (Kyoto JPX) Tsujimura Hiroji (Osaka JPX) Arima Jiro (Osaka JPX)
출원인 / 주소
  • Minolta Camera Kabushiki Kaisha (Osaka JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 22  인용 특허 : 0

초록

A pyrometer includes a light source capable of emitting light to at least two wavelengths to a target to be measured. A light measuring member measures the light source and provides output signals representative of those two wavelengths. A second light measuring member measures light reflected by th

대표청구항

A pyrometer comprising: light producing means for producing light having at least two different wavelength components; a first optical fiber, one end of which is operatively connected to the light producing means and the other end of which is directed to a target for delivering the two different wav

이 특허를 인용한 특허 (22)

  1. Ish-Shalom Yaron,ILX ; Baharav Yael, Active pyrometry with emissivity extrapolation and compensation.
  2. Camm,David Malcolm; Bumbulovic,Mladen; Cibere,Joseph; Elliott,J. Kiefer; McCoy,Steve; Stuart,Greg, Apparatuses and methods for suppressing thermally-induced motion of a workpiece.
  3. Ludwig, Richard A.; Zabriskie, William L., Instrument visualization system.
  4. John D. Dobak, III, Medical procedure.
  5. Murata, Ronald N., Method and apparatus for determining the emissivity, area and temperature of an object.
  6. Berkcan Ertugrul ; Tiemann Jerome Johnson ; Unternahrer Josef Robert ; Smolenski Joseph Lucian ; Saulnier Emilie Thorbjorg, Method and apparatus for sensing properties of glass-ceramic cooktop.
  7. Camm, David Malcolm; Sempere, Guillaume; Kaludjercic, Ljubomir; Stuart, Gregory; Bumbulovic, Mladen; Tran, Tim; Dets, Sergiy; Komasa, Tony; Rudolph, Marc; Cibere, Joseph, Methods and systems for supporting a workpiece and for heat-treating the workpiece.
  8. Camm, David Malcolm; Sempere, Guillaume; Kaludjercic, Ljubomir; Stuart, Gregory; Bumbulovic, Mladen; Tran, Tim; Dets, Sergiy; Komasa, Tony; Rudolph, Marc; Cibere, Joseph, Methods and systems for supporting a workpiece and for heat-treating the workpiece.
  9. Ertugrul Berkcan ; Emilie Thorbjorg Saulnier, Monitoring and control system and method for sensing of a vessel and other properties of a cooktop.
  10. Adams,Bruce E.; Jennings,Dean; Hunter,Aaron M.; Mayur,Abhilash J.; Parihar,Vijay; Thomas,Timothy N., Multiple band pass filtering for pyrometry in laser based annealing systems.
  11. Schietinger Charles W. ; Adams Bruce E., Non-contact optical techniques for measuring surface conditions.
  12. Spitzberg Richard M., Non-contact surface temperature, emissivity, and area estimation.
  13. Egawa, Shunji, Radiation clinical thermometer.
  14. Saulnier Emilie Thorbjorg ; Berkcan Ertugrul, Sensor assembly for glass-ceramic cooktop appliance and method of calibrating.
  15. Malone, Christopher G.; Bash, Cullen E.; Patel, Chandrakant D., Spray cooling system with cooling regime detection.
  16. Poulsen, Peter, Systems and methods for integrated emissivity and temperature measurement of a surface.
  17. Camm, David Malcolm; Cibere, Joseph; Bumbulovic, Mladen, Systems and methods for supporting a workpiece during heat-treating.
  18. Ralph A. Felice, Temperature determining device and process.
  19. Camm,David M.; Kervin,Shawna; Lefrancois,Marcel Edmond; Stuart,Greg, Temperature measurement and heat-treating methods and system.
  20. Camm, David M.; Kervin, Shawna; Lefrancois, Marcel Edmond; Stuart, Greg, Temperature measurement and heat-treating methods and systems.
  21. Schietinger, Charles W.; Palfenier, Ronald A., Wafer temperature measurement method for plasma environments.
  22. Camm, David Malcolm; Cibere, Joseph; Stuart, Greg; McCoy, Steve, Workpiece breakage prevention method and apparatus.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로