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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0719945 (1991-06-24) |
우선권정보 | JP-0236712 (1990-09-06) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 8 인용 특허 : 0 |
An apparatus for measuring the temperature of an object placed in a plasma by utilizing radiation includes measuring means for measuring the intensity of radiation from the object and the intensity of plasma light in different directions at the same time. The measuring means includes a first lens fo
A temperature measuring apparatus utilizing radiation, comprising: measuring means for measuring an intensity of radiation from a to-be-measured object placed in a plasma and an intensity of a plasma light, in different directions at the same time; means for correcting a measured value of the intens
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