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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0820975 (1992-01-15) |
우선권정보 | JP-0026729 (1991-01-29) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 24 인용 특허 : 0 |
A method of and an apparatus for inspecting an end of an object for a defect by which not only a defect caused by deformation of an end of an object in a horizontal direction but also another defect caused by deformation in a vertical direction can be detected with a high degree of accuracy. Light f
A method of inspecting an end portion of an object for a defect, comprising the steps of receiving light from an end portion of an object by means of a pair of one- or two-dimensional image sensors disposed at a predetermined angle relative to each other, storing brightness outputs of picture elemen
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