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Thermal cycling device 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-003/60
  • G01N-025/72
  • F25B-029/00
출원번호 US-0676687 (1991-03-28)
발명자 / 주소
  • Christian Earl L. (San Diego CA) Owen Kyle C. (Arlington TX)
출원인 / 주소
  • General Dynamics Corporation, Space Systems Div. (San Diego CA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 6  인용 특허 : 7

초록

A thermal cycling apparatus having an upper heat chamber and a lower cold chamber positioned vertically beneath the upper heat chamber and vertically coaxial therewith whereby a material to the thermal cycle tested can be transferred between the upper heat chamber and the lower cold chamber. An exte

대표청구항

A thermal cycling device comprising: a first heating chamber; a second cooling chamber vertically disposed beneath said first heating chamber; a door pivotal between an open and a closed state separating said chambers; a wire extending from said door to a location externally of said thermal cycling

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Loxley Ted A. (Mentor OH) Barber Walter G. (North Perry OH) Combs Walter W. (Mentor OH) Webb John M. (Chagrin Falls OH), Apparatus for making vitreous silica receptacles.
  2. Jimnez-Maldonado Gilberto-Alejandro (Residencial Chipinque MXX), Continuous method and apparatus for the thermal treatment of metallic workpieces.
  3. Miura Kazuo (Nara JPX) Kang Yoon M. (Sakai JPX) Taneya Shoichi (Sakai JPX) Noguchi Satoshi (Sakai JPX) Sakitani Katsumi (Kawachinagano JPX), Cryogenic refrigeration system for cooling a specimen.
  4. Bickford Karin (Plainsboro NJ) Japka Joseph E. (Cherry Hill NJ) Roaper Robert B. (Martinsville NJ), Method and apparatus for controlling electrostatic charges in fluidized beds.
  5. Yokouchi Kishio (Zama JPX) Yamada Mitsutaka (Atsugi JPX) Kamehara Nobuo (Isehara JPX) Niwa Koichi (Tama JPX), Production and use of coolant in cryogenic devices.
  6. Ogura Toichi (Shiga JPX) Kanamori Ikuo (Osaka JPX) Murano Keiichi (Sakurai JPX), Thermal shock chamber.
  7. Heidt Donald W. (Whitewright TX) Thompson Steve (Kalispell MT) Lund Worm (Seattle WA) Thompson Raymon F. (Kalispell MT) Beasley Larry M. (Austin TX), Vertical thermal processor for semiconductor wafers.

이 특허를 인용한 특허 (6)

  1. Akpan Edward ; Branson Jeff Lee ; Ross Blake ; Loncke John,CAX ; Dinh Long T.,CAX ; Piekos Richard,CAX, Accelerated thermal fatigue testing of engine combustion chambers.
  2. Chao, Ying-Chen; Lee, Wi William; Yang, Sen-Shan; Liao, Keng-Hui, Accelerated thermal stress cycle test.
  3. Wu Wen-Shien,TWX, Apparatus for thermally testing an electronic device.
  4. Chang Su-Fen (P.O. Box 90 Tainan ; 704 TWX), Device for thermally testing a temperature control element.
  5. Higginbotham, Steven N.; Ludcke, Warren; Austin, Jason, Temperature control method and apparatus.
  6. Robert K. Hayes ; Clinton A. Peterson, Transfer mechanism for environmental testing apparatus.
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