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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0953990 (1992-09-29) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 50 인용 특허 : 3 |
The present invention comprises a method and apparatus for determining actual temperature, reflectivity and fluorescence of a surface and comprises in the preferred embodiment a two-dimensional focal plane array of rapidly tunable infrared detectors, 11, adapted to detect the emitted infrared flux f
An apparatus for determining temperature, reflectivity (or emissivity) and fluorescence of an area of interest from the detection of emitted infrared flux, comprising: infrared detection means adapted to measure emitted infrared flux of said area in the 4-15 mm spectrum, said detection means being f
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