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특허 상세정보

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Resistance tester utilizing regulator circuits

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01R-027/14   
미국특허분류(USC) 324/706 ; 324/705 ; 324/713 ; 340/661
출원번호 US-0907372 (1992-07-01)
발명자 / 주소
  • Lloyd Steven G. (Hudson MA) Partovi Hamid (Westborough MA)
출원인 / 주소
  • Digital Equipment Corp. (Maynard MA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 6  인용 특허 : 5
초록

A portable resistance tester comprises a pair of regulator circuits used to drive a bridge circuit and a detector circuit when measuring the resistance values of “in-circuit”test nodes. The tester produces an audible signal when the resistance of a measured test node falls within, or without, a predetermined resistance range.

대표
청구항
▼

A portable resistance tester comprising: a bridge circuit including a reference resistance value and including test leads for connecting to an unknown resistance value, said bridge circuit further configured to provide a matched condition when said unknown resistance value is equal to said reference value; a detector circuit including a plurality of comparator circuits having inputs coupled to said bridge circuit and outputs coupled to logic circuitry configured to excite a buzzer circuit in response to one of said matched condition and a no-matched cond...

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Forrester Lester L. (Cucamonga CA), Audible test device.
  2. Ray ; David J., Resistance bridge transducer conditioning circuit.
  3. Palumbo Perry A. (New Kensington PA) Singleton Oscar (Pittsburgh PA) Gaetano Louis G. (New Kensington PA), Temperature limited catalytic gas detector apparatus.
  4. Piesche Helfried (Owingen DT), Thermal conductivity detector circuit.
  5. Malmgren Arthur L. (386 NW. 112th St. Seattle WA 98177), Water quality monitor.

이 특허를 인용한 특허 (6)

  1. Michelangelo Mazzucco IT; Giampietro Maggioni IT, Device for detecting short-circuits.
  2. Lawrence,Clifton, Device to audibly express impendance measurement.
  3. Tsai,Sheng Yuan; Wang,Ding Houng, Multi-level voltage detection circuit.
  4. Alden Peter H. (P.O. Box 375 N. Easton MA 02356), Quick connect coupling system for rapidly joining connectors and/or other elongated bodies.
  5. Cho, Won-Gu, Substrate of electronic device, electronic device including the same, and measuring method of resistance at connection portion.
  6. Peterson Ronald H. ; Pickens Keith S., Thermal transient test system.

IPC 상위 출원인