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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0919372 (1992-07-29) |
우선권정보 | JP-0247662 (1989-09-23) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 158 인용 특허 : 0 |
A method for forming a semiconductor thin film comprises crystallizing an amorphous silicon thin film by a first thermal treatment at 700°C. or lower for ten hours or longer and carrying out a second thermal treatment at 1200°C. or higher in which a lamp light is radiated to the crystallized thin fi
A method for forming a semiconductor thin film which comprises: (i) crystallizing an amorphous thin film formed on an amorphous insulating surface of a substrate by a first thermal treatment at 700°C. or lower for at least ten hours to form a crystallized thin film having a grain size of at least 1
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