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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0090654 (1993-07-13) |
발명자 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 219 인용 특허 : 0 |
Process for modelling cranio-facial architecture on the basis of a lateral cephalometric X-ray by determining bony points and plotting analysis lines, measuring the angles and comparing them with thresholds and measuring the lengths and comparing the lengths with one another.
Process for modelling the cranio-facial architecture from a lateral cephalometric X-ray by determining the bony points and plotting straight lines for analysis, characterised in that a lateral X-ray of the cranium to be analysed is taken and: the following points P1, P2, P3 . . . P16, P17, P18, P19
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