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Process facility monitor using fuzzy logic 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-015/20
출원번호 US-0796291 (1991-11-22)
발명자 / 주소
  • Impink
  • Jr. Albert J. (Murrysville PA)
출원인 / 주소
  • Westinghouse Electric Corporation (Pittsburgh PA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 24  인용 특허 : 0

초록

A method for monitoring operation of a process facility comprising the steps of storing at least one planned sequence of hypothesized plant states using multi-valued logic to define calculation of a congruence factor for each of the hypothesized plant states; wherein said storing step includes stori

대표청구항

A method for monitoring operation of a process facility comprising the steps of: (a) storing at least one planned sequence of hypothesized plant states using multi-valued logic to define calculation of a congruence factor for each of the hypothesized plant states; wherein said storing in step (a) in

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  1. Bickford, Randall L.; Palnitkar, Rahul M.; Lee, Vo, Adaptive model training system and method.
  2. Price, Joseph K., Anodizing system with a coating thickness monitor and an anodized product.
  3. Price,Joseph K., Anodizing system with a coating thickness monitor and an anodized product.
  4. Price,Joseph K., Anodizing system with a coating thickness monitor and an anodized product.
  5. Bickford, Randall L.; Palnitkar, Rahul M., Dynamic data filtering system and method.
  6. Nordtvedt, Jan-Erik; Hosøy, Jørgen, Information display system.
  7. Rusnica Leigh Ann ; Kerch Steven Paul ; Thomas Vaughn M. ; Kenney Stephen Joseph ; Brockhoff ; Jr. Charles Stillwell ; Morris Bert C. ; Roth Emilie Matarasso ; Sugibayashi Nobuo, Information display system.
  8. Larkin Louis J. ; Healy Timothy A. ; Kerr Laura J., Method and apparatus for estimating an actual magnitude of a physical parameter on the basis of three or more redundant signals.
  9. Lipner Melvin H. ; Mundy Roger A. ; Batt Theodore J., Method and system for automatically executing multiple procedures for a complex process facility.
  10. Price, Joseph K., Method for forming and measuring the thickness of an anodized coating.
  11. Selvamanickam,Venkat, Method for manufacturing high temperature superconducting conductors using chemical vapor deposition (CVD).
  12. Selvamanickam, Venkat; Lee, Hee-Gyoun, Method for manufacturing high-temperature superconducting conductors.
  13. Weinfurtner Oliver,DEX, Programmable hearing aid with fuzzy logic control of transmission characteristics.
  14. Bonissone, Piero Patrone; Chen, Yu-to, System and method for tuning a raw mix proportioning controller.
  15. Bonissone,Piero Patrone; Chen,Yu To, System and method for tuning a raw mix proportioning controller.
  16. Price,Joseph K., System capable of determining applied and anodized coating thickness of a coated-anodized product.
  17. Gross, Kenneth C.; Wegerich, Stephan W., System for monitoring non-coincident, nonstationary process signals.
  18. Reeves, Jodi L.; Qiao, Yunfei, Tape manufacturing system.
  19. Reeves,Jodi L.; Qiao,Yunfei, Tape manufacturing system.
  20. Satnam Singh Sampuran Alag ; Mahesh Amritlal Morjaria, Thermocouple failure detection in power generation turbines.
  21. Vuong, Vi; Bao, Junwei; Chen, Yan; Heiko, Weichert; Egret, Sebastien, Transforming metrology data from a semiconductor treatment system using multivariate analysis.
  22. Vuong, Vi; Bao, Junwei; Chen, Yan; Weichert, Heiko; Egret, Sebastien, Transforming metrology data from a semiconductor treatment system using multivariate analysis.
  23. Briden, Frederick Charles Ernest; Saillet, Yannick, Visual editor for editing complex expressions.
  24. Briden, Frederick Charles Ernest; Saillet, Yannick, Visual editor for editing complex expressions.
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