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Voltage level detecting circuit 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H03K-017/22
출원번호 US-0219865 (1994-03-30)
우선권정보 JP-0337149 (1991-12-19)
발명자 / 주소
  • Kokubo Nobuyuki (Hyogo JPX) Ikeda Kazuya (Hyogo JPX)
출원인 / 주소
  • Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha (Tokyo JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 36  인용 특허 : 0

초록

A power supply voltage level detecting circuit includes a reference voltage generating circuit for generating a constant reference voltage independent of a power supply voltage, a to-be-compared voltage generating circuit for generating a voltage to be compared changing dependent upon the power supp

대표청구항

A circuit device for detecting a level of a power supply voltage, comprising: a first terminal for receiving said power supply voltage; reference voltage generating circuit for generating a reference voltage substantially independent of variations in the power supply voltage, said reference voltage

이 특허를 인용한 특허 (36)

  1. Donnelly Kevin S. ; Tran Chanh ; Ching Michael ; Garlepp Bruno, Bus driver circuit including a slew rate indicator circuit having a one shot circuit.
  2. Park, Nak Kyu, Circuit for controlling an initializing circuit in a semiconductor device.
  3. Degoirat Hubert,FRX ; Lisart Mathieu,FRX, Detector of range of supply voltage in an integrated circuit.
  4. Degoirat, Hubert; Lisart, Mathieu, Detector of range of supply voltage in an integrated circuit.
  5. Van Auken Jeffrey B., Differential power sensor circuit.
  6. Utsunomiya, Fumiyasu, Electronic device having a CMOS circuit.
  7. Liu Lawrence ; Murray Michael A. ; Li Li-Chun, Generation of signals from other signals that take time to develop on power-up.
  8. Ranson Cheryl A. (Ft. Collins CO), Integrated circuit for automatic determination of PCI signaling environment-either 3.3V or 5V.
  9. Chevallier Christophe J. ; Roohparvar Frankie F. ; Briner Michael S., Level detection circuit.
  10. Roohparvar Frankie F., Low voltage test mode operation enable scheme with hardware safeguard.
  11. Roohparvar Frankie F., Low voltage test mode operation enable scheme with hardware safeguard.
  12. Roohparvar Frankie F., Low voltage test mode operation enable scheme with hardware safeguard.
  13. Roohparvar Frankie F., Low voltage test mode operation enable scheme with hardware safeguard.
  14. Roohparvar Frankie F. (Cupertino CA), Memory system having non-volatile data storage structure for memory control parameters and method.
  15. Roohparvar Frankie F. ; Rinerson Darrell D. ; Chevallier Christophe J. ; Briner Michael S., Memory system having programmable control parameters.
  16. Roohparvar Frankie F. ; Rinerson Darrell D. ; Chevallier Christophe J. ; Briner Michael S., Memory system having programmable control parameters.
  17. Radke, Russell E., Method for preventing damage to IO devices due to over voltage at pin.
  18. Roohparvar Frankie F. ; Briner Michael S., Non-volatile data storage unit and method of controlling same.
  19. Mihara Masaaki,JPX, Potential detect circuit for detecting whether output potential of potential generation circuit has arrived at target potential or not.
  20. Chevallier Christophe J. ; Roohparvar Frankie F. ; Briner Michael S., Power level detection circuit.
  21. Lim,Kyu Nam, Power up signal generator.
  22. Morrill David P., Power-on reset circuit.
  23. Slamowitz, Mark N.; Radieddine, Bassem, Power-on reset circuit for use in low power supply voltage applications.
  24. Kwak,Choong Keun; Kim,Du Eung; Cho,Woo Yeong, Reference voltage generating circuit using active resistance device.
  25. Tang, Bo; Bhatia, Ajay Kumar, SRAM regulating retention scheme with discrete switch control and instant reference voltage generation.
  26. Suzuki Takaaki,JPX ; Niimi Makoto,JPX ; Kawai Hideaki,JPX ; Kaida Masato,JPX, Semiconductor integrated circuit device capable of reducing power consumption.
  27. Masao Taguchi JP; Satoshi Eto JP; Yoshihiro Takemae JP; Hiroshi Yoshioka JP; Makoto Koga JP, Semiconductor integrated circuit with input/output interface adapted for small-amplitude operation.
  28. Taguchi Masao,JPX ; Eto Satoshi,JPX ; Takemae Yoshihiro,JPX ; Yoshioka Hiroshi,JPX ; Koga Makoto,JPX, Semiconductor integrated circuit with input/output interface adapted for small-amplitude operation.
  29. Taguchi, Masao; Eto, Satoshi; Takemae, Yoshihiro; Yoshioka, Hiroshi; Koga, Makoto, Semiconductor integrated circuit with input/output interface adapted for small-amplitude operation.
  30. Taguchi, Masao; Eto, Satoshi; Takemae, Yoshihiro; Yoshioka, Hiroshi; Koga, Makoto, Semiconductor integrated circuit with input/output interface adapted for small-amplitude operation.
  31. Taguchi, Masao; Eto, Satoshi; Takemae, Yoshihiro; Yoshioka, Hiroshi; Koga, Makoto, Semiconductor integrated circuit with input/output interface adapted for small-amplitude operation.
  32. Taguchi, Masao; Takemae, Yoshihiro, Semiconductor integrated circuit with input/output interface adapted for small-amplitude operation.
  33. Shin Youn-Cherl,KRX ; Kim Dae-Jeong,KRX, Substrate voltage generation circuit.
  34. Steedman, Sean; Lourens, Ruan; Hull, Richard, Variable power and response time brown-out-reset circuit.
  35. Lin Jin-Lien, Voltage detection circuit.
  36. Shimazaki Mamoru,JPX, Voltage detection circuit.
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