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Discrete distributed sensors and system for spatial sensing 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-029/04
  • G01L-009/00
출원번호 US-0975510 (1992-11-12)
발명자 / 주소
  • Andersson Mark S. (Cambridge MA) Crawley Edward F. (Cambridge MA)
출원인 / 주소
  • Massachusetts Institute of Technology (Cambridge MA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 26  인용 특허 : 0

초록 ▼

A sensor has a sensing region that responds to a surface property by producing an output signal. The sensor has a spatially distributed shape or sensitivity so that the output decreases away from a central part of the sensor, and thus the outputs of plural sensors combined have finite spatial transf

대표청구항 ▼

An improved surface sensor for mounting in proximity to a surface of a structure to sense a property of the surface and produce an output for controlling the surface, such sensor being coupled to produce a sensing signal which responds primarily to said property of said surface and having a shape to

이 특허를 인용한 특허 (26)

  1. Hamilton, Brian K.; Hassan, Ahmed; Birchette, Terrence S.; Murrill, Robert R., Composite material for geometric morphing wing.
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  2. Chang,Timothy N.; Cheng,Biao, Film based position and pressure sensor.
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  3. Kossuth, Mary Beth; Hajduk, Damian A.; Mansky, Paul, High throughput fabric handle screening.
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  4. Hajduk, Damian A.; Carlson, Eric D.; Freitag, J. Christopher; Kolosov, Oleg; Engstrom, James R.; Safir, Adam; Srinivasan, Ravi; Matsiev, Leonid, High throughput mechanical property and bulge testing of materials libraries.
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  5. Hajduk, Damian A.; Carlson, Eric D.; Freitag, J. Christopher; Kolosov, Oleg; Engstrom, James R.; Safir, Adam; Srinivasan, Ravi; Matsiev, Leonid, High throughput mechanical property testing of materials libraries using a piezoelectric.
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  6. Hajduk, Damian A.; Carlson, Eric D.; Freitag, J. Christopher; Kolosov, Oleg; Engstrom, James R.; Safir, Adam; Srinivasan, Ravi; Matsiev, Leonid, High throughput mechanical property testing of materials libraries using capacitance.
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  7. Mansky, Paul, High throughput mechanical rapid serial property testing of materials libraries.
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  8. Mansky, Paul, High throughput mechanical rapid serial property testing of materials libraries.
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  9. Mansky, Paul, High throughput mechanical rapid serial property testing of materials libraries.
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  10. Mansky, Paul, High throughput mechanical rapid serial property testing of materials libraries.
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  11. Hajduk,Damian A.; Kolosov,Oleg, High throughput permeability testing of materials libraries.
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  12. Hajduk,Damian A.; Kolosov,Oleg, High throughput preparation and analysis of plastically shaped material samples.
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  13. Mansky, Paul; Hajduk, Damian A., High throughput rheological testing of materials.
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  14. Mansky,Paul; Hajduk,Damian A., High throughput rheological testing of materials.
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  15. Damian Hajduk ; Paul Mansky, High throughput viscometer and method of using same.
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  16. Hajduk, Damian; Carlson, Eric; Freitag, J. Christopher; Kolosov, Oleg; Engstrom, James R.; Safir, Adam; Srinivasan, Ravi; Matsiev, Leonid, Instrument for high throughput measurement of material physical properties and method of using same.
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  17. Hajduk, Damian; Carlson, Eric; Freitag, J. Christopher; Kosolov, Oleg, Instrument for high throughput measurement of material physical properties of a plurality of samples.
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  18. Brett P. Masters ; John P. Rodgers ; Marthinus C. van Schoor, Laser machining of electroactive ceramics.
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  19. Masters,Brett P.; Rodgers,John P.; van Schoor,Marthinus C., Laser machining of electroactive ceramics.
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  20. Carlson,Mark A., Measurement of coupled aerodynamic stability and damping derivatives in a wind tunnel.
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  21. Hajduk, Damian; Mansky, Paul, Method of using a high throughput viscometer.
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  22. White, III, Orland Kermit, Network hub for a reconfigurable data network having physical transmission media.
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  23. Cuhat, Daniel; Davies, Patricia, Piezoelectric transducer.
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  24. Cuhat, Daniel; Davies, Patricia, Piezoelectric transducer.
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  25. Xie,Feng Anne; Zheng,Lei; Castner,Eric Sean, Rubber composition containing resinous nanopractice.
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  26. Greenblatt, David, Simultaneous multiple-location separation control.
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