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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0974603 (1992-11-12) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 29 인용 특허 : 0 |
A method of operating an atomic force microscope having a probe tip attached to a free end of a lever which is fixed at its other, wherein the probe tip is scanned in forward and reverse directions in a common scanline across the surface of a sample and either the deflection of the lever or the heig
In a method of operating an atomic force microscope (AFM) having a probe tip attached to a free end of a lever which is fixed at an opposite end thereof, scanning means for scanning the probe tip with respect to a sample, and detecting means for detecting one of deflection of the lever and height of
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