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Methods of operating atomic force microscopes to measure friction

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-007/34
  • G01N-019/02
출원번호 US-0974603 (1992-11-12)
발명자 / 주소
  • Elings Virgil B. (Santa Barbara CA)
출원인 / 주소
  • Digital Instruments, Inc. (Santa Barbara CA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 29  인용 특허 : 0

초록

A method of operating an atomic force microscope having a probe tip attached to a free end of a lever which is fixed at its other, wherein the probe tip is scanned in forward and reverse directions in a common scanline across the surface of a sample and either the deflection of the lever or the heig

대표청구항

In a method of operating an atomic force microscope (AFM) having a probe tip attached to a free end of a lever which is fixed at an opposite end thereof, scanning means for scanning the probe tip with respect to a sample, and detecting means for detecting one of deflection of the lever and height of

이 특허를 인용한 특허 (29)

  1. Yamazaki,Junichi; Suzuki,Kazuya, Apparatus and method of detecting surface convexity of members, and method of producing the members.
  2. Hu Jun ; Ogletree D. Frank ; Salmeron Miguel ; Xiao Xudong,CNX, Apparatus for imaging liquid and dielectric materials with scanning polarization force microscopy.
  3. Fujimoto, Hiroshi; Ooshima, Takashi, Atomic force microscope apparatus.
  4. Xu Shaohua ; Arnsdorf Morton F., Atomic force microscope for biological specimens.
  5. Elings Virgil B. ; Adderton Dennis M. ; Sarid Dror, Atomic force microscope for measuring properties of dielectric and insulating layers.
  6. Zhou, Lin; Liu, Huiwen; Egbert, Dale; Nelson, Jonathan A.; Zhu, Jianxin, Atomic force microscopy of scanning and image processing.
  7. Shirakawabe Yoshiharu,JPX ; Shimizu Nobuhiro,JPX ; Takahashi Hiroshi,JPX, Cantilever probe and scanning type probe microscope utilizing the cantilever probe.
  8. Adderton Dennis M. ; Elings Virgil B., Capacitance atomic force microscopes and methods of operating such microscopes.
  9. Shi, Jian; Prater, Craig; Ma, Ji; Su, Chanmin, Closed loop controller and method for fast scanning probe microscopy.
  10. Shi, Jian; Su, Chanmin; Prater, Craig; Ma, Ji, Closed loop controller and method for fast scanning probe microscopy.
  11. Park, Jung Yeon; Hong, Woong Pyo; Seo, Ji Youn; Kim, Bo Kyung; Lyo, In Woong; Choi, Kwang Hoon; Kim, Doo In; Park, Sung Mo; Jeong, Myung Yung, Friction coefficient measuring method of surface of specimen.
  12. Lin Yung-Shi,TWX, High-sensitivity strain probe.
  13. Lin Yung-Shi,TWX, High-sensitivity strain probe.
  14. Berghaus Andreas ; Bryson ; III Charles E. ; Plombon John J., Interpolated height determination in an atomic force microscope.
  15. Roger L. Alvis, Method and apparatus for a line based, two-dimensional characterization of a three-dimensional surface.
  16. Elings Jeffrey R. ; Elings Virgil B. ; Schmitt Christopher C., Method and apparatus for measuring mechanical properties on a small scale.
  17. Su, Chanmin; Phan, Nghi; Prater, Craig, Method and apparatus for obtaining quantitative measurements using a probe based instrument.
  18. Huang, Lin; Meyer, Charles, Method and apparatus for reducing lateral interactive forces during operation of a probe-based instrument.
  19. Hu Jun ; Ogletree D. Frank ; Salmeron Miguel ; Xiao Xudong,CNX, Method for imaging liquid and dielectric materials with scanning polarization force microscopy.
  20. Honma Akihiko,JPX, Method of controlling probe microscope.
  21. Liu, Huiwen; Gunderson, Peter; Zhou, Lin, Methods and devices for correcting errors in atomic force microscopy.
  22. Gupta, Arunava; Saraf, Ravi, Micro goniometer for scanning probe microscopy.
  23. Bonilla, Flavio Alejandro; Proksch, Roger; Cleveland, Jason; Sauter, Tim, Nanoindenter.
  24. Bonilla, Flavio Alejandro; Proksch, Roger; Cleveland, Jason; Sauter, Tim, Nanoindenter.
  25. Bonilla, Flavio Alejandro; Proksch, Roger; Cleveland, Jason; Sauter, Tim, Nanoindenter.
  26. Stewart, Ray F., Phase change sensor.
  27. Park, Sang-il; Kim, Yong-Seok; Kim, Jitae; Chung, Sang Han; Shin, Hyun-Seung; Lee, Jung-Rok; Hwang, Euichul, Scanning probe microscope capable of measuring samples having overhang structure.
  28. Liu, Huiwen; Gunderson, Peter, Semi-auto scanning probe microscopy scanning.
  29. Samsavar Amin ; Zhuang Jian-Ping ; Schneir Jason, System for locating a feature of a surface.
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