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특허 상세정보

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AlxGa1-x as probe for use in electro-optic sampling

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01R-031/00   
미국특허분류(USC) 324/96 ; 324/117R
출원번호 US-0948059 (1992-09-21)
발명자 / 주소
  • Dykaar Douglas R. (Gillette NJ) Keil Ulrich D. (Warren NJ) Kopf Rose F. (Greenbrook NJ) Laskowski Edward J. (Scotch Plains NJ) Zydzik George J. (Columbia NJ)
출원인 / 주소
  • AT&T Corp. (Murray Hill NJ 02)
인용정보 피인용 횟수 : 11  인용 특허 : 0
초록
▼

A new electro-optic sampling probe with femtosecond resolution suitable for ultra-fast electro-optic sampling. The new probe is several times thinner and has a dielectric constant four times less than the best reported conventional bulk LiTaO3 probes. In addition, the ultimate bandwidth is 50 percent greater than an equivalent LiTaO3 probe. The probe is a thin film of AlxGa1-xAs used in both total internally reflecting and free-standing geometries. Here x is chosen for sufficient transmission of the crystal to the wavelength of the laser source being use...

대표
청구항
▼

An electro-optic probe for use in electro-optic sampling of electronic and opto-electronic circuits which comprises a crystal which exhibits longitudinal electro-optic effect, said crystal is a thin film comprising AlxGa1-xAs wherein x is chosen for sufficient transparency to a laser source being used in the electro-optic sampling, the thickness of said film is chosen to be thin compared to a spatial extent of the laser pulse of said laser source, said probe crystal is a freestanding probe, and said probe crystal is provided with an anti-reflective coati...

이 특허를 인용한 특허 (11)

  1. Diddams Scott A. ; Diels Jean-Claude M. ; Steffen Prien,DEX, Broadband ultrashort pulse measuring device using non-linear electronic components.
  2. Nakase, Masaki, Electric field probe.
  3. Xi-Cheng Zhang ; Zhiping Jiang CA, Electro-optic/magneto-optic measurement of electromagnetic radiation using chirped optical pulse.
  4. Zhang Xi-Cheng ; Riordan Jenifer Ann ; Sun Feng-Guo, Electro-optical and magneto-optical sensing apparatus and method for characterizing free-space electromagnetic radiation.
  5. Zhang Xi-Cheng ; Libelo Louis Francis ; Wu Qi, Electro-optical sensing apparatus and method for characterizing free-space electromagnetic radiation.
  6. Zhang, Xi-Cheng; Jiang, Zhiping, Method of characterizing free-space radiation using a chirped optical pulse.
  7. Han, Seung-hoon; Yoo, In-kyeong; Lee, Sang-yoon; Lee, Hong-seok; Han, Moon-gyu; Kim, Sun-kook, Nanostructured acousto-optic device, and optical scanner, optical modulator, and holographic display apparatus using the nanostructured acousto-optic device.
  8. Hopkins Leslie C. (Flemington NJ) Murray Cherry A. (Murray Hill NJ) Partovi Afshin (New York NY) Peale David R. (Chatham NJ) Yeh Hsi-jen J. (Chatham NJ) Zydzik George J. (Columbia NJ), Near-field optical apparatus with a laser having a non-uniform emission face.
  9. Cole,Bryan Edward, Probe apparatus and method for examining a sample.
  10. Zhang, Xi-Cheng; Xu, Jingzhou; Yuan, Tao, T-ray Microscope.
  11. Kazuhisa Sueoka JP, Thin film spin probe.

IPC 상위 출원인