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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0219479 (1994-03-29) |
우선권정보 | DE-4310583 (1993-03-31) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 144 인용 특허 : 0 |
Test strip analysis system includes an analysis apparatus with a test strip holding device (3) and matching test strips. The test strip holding device (3) serves to position the test strip (4) in a defined position relative to a measuring unit (11). It includes a test strip seating device (20) and a
A test strip analysis system, comprising: at least one test strip, said at least one test strip including a front end, a handling end, and a test field area disposed between the handling end and the front end, said test field area including at least one test field thereupon, said test strip also hav
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