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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0017519 (1993-02-12) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 99 인용 특허 : 0 |
A fault tolerant IC device is made from a wafer of field programmable gate arrays (FGPA\s). Each FGPA is first tested and a wafer map of defective FGPA locations is recorded. A hardware description defines desired circuit operation either via a schematic or a functional description such as a equatio
A method for providing a fault-tolerant integrated circuit device including the steps of: providing a wafer having a plurality of configurable gate arrays each having a plurality of programmable input/output (I/O) blocks, a plurality of programmable logic blocks, a plurality of programmable routing
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