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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0145150 (1993-11-03) |
우선권정보 | JP-0302225 (1992-11-12) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 11 인용 특허 : 0 |
In a semiconductor device manufacturing apparatus of a reactive ion etching apparatus or the like, only a DC signal in a high frequency electric field can be accurately detected in a real-time manner without any noise, thereby enabling a temperature, a potential, or another parameter of a substrate
A semiconductor device manufacturing apparatus comprising: a high frequency power source to generate a high frequency wave of a wavelength ll
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