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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0252574 (1994-06-01) |
우선권정보 | JP-0165218 (1993-06-10); JP-0165219 (1993-06-10); JP-0166224 (1993-06-12) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 15 인용 특허 : 0 |
A compact infrared gas analyzer capable of reducing the quantity of heat generated from a radiation source and the effects of temperature on samples is provided. A shutter is provided between the radiation source and the sample cell and/or between the sample cell and a detector with the shutter in a
An infrared gas analyzer having low energy consumption, low temperature drift from self-heating, and small size; said infrared gas analyzer comprising: a sample cell containing a sample gas; a radiation source positioned adjacent to one end of said sample cell so that infrared radiation emitted by s
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