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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0355034 (1994-12-13) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 29 인용 특허 : 0 |
A high voltage silicon carbide MESFET includes an electric field equalizing region in a monocrystalline silicon carbide substrate at a face thereof, which extends between the drain and gate of the MESFET and between the source and gate of the MESFET. The region equalizes the electric field between t
A method of fabricating a silicon carbide field effect transistor, comprising the steps of: forming spaced apart source and drain regions in a fact of a monocrystalline silicon carbide substrate, and a gate on said face between said spaced apart source and drain regions; and amorphizing said monocry
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