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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0260155 (1994-06-08) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 6 인용 특허 : 0 |
A method for forming a semiconductor structure having a layer of low minority carrier lifetime and a layer of high minority carrier lifetime comprises the steps of forming a silicon dioxide layer on a layer of low minority carrier lifetime silicon of a silicon-on-sapphire handle wafer and another la
A method for forming a semiconductor structure having a layer with a low minority carrier lifetime and a layer with a high minority carrier lifetime, comprising the steps of: forming a first silicon dioxide layer having an exposed surface on a layer of low minority carrier lifetime epitaxial silicon
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