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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0221037 (1994-03-31) |
우선권정보 | NZ-0240154 (1991-10-08) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 59 인용 특허 : 0 |
An infrared gas analyser. The analyser comprises a sample cell located in a gas flow, a source of infrared radiation of selected wavelengths which is propagated through the sample cell and an infrared detector which receives radiation which has passed through the cell, The radiation incident on the
An infrared gas analyser comprising a first source of infrared radiation of a first selected wavelength, the first selected wavelength being strongly absorbed by a selected gas to constitute a measurement wavelength, a second source on infrared radiation of a second selected wavelength, the second s
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