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Surface extraction from a three-dimensional data set

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-015/00
출원번호 US-0079193 (1993-06-17)
발명자 / 주소
  • Lee, Ken K.
출원인 / 주소
  • Ultrapointe Corporation
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 18

초록

Surface image data representing a three-dimensional surface is extracted from a three-dimensional set of data representing characteristics of a volume in space (volumetric data) that encompasses the surface of an object, so that the surface image data can be used to display the surface. The volumetr

대표청구항

1. A method for constructing an image of a surface from a volumetric set of signals representing data value numbers, the volumetric set described by a Cartesian coordinate system having X, Y, and Z axes such that each number has a unique location, the volumetric set comprising at least one linear se

이 특허에 인용된 특허 (18)

  1. Civanlar M. Reha (Red Bank NJ) Dzik Steven C. (Somerset NJ) Liow Yuh-Tay (Edison NJ), Arrangement for determining and displaying volumetric data in an imaging system.
  2. Houpt Pieter M. (The Hague NLX) Draaijer Arie (Zwijndrecht NLX), Confocal laser scanning microscope.
  3. Ellis Gordon W. (Media PA), Confocal laser scanning microscope having relay lens and a slit for removing stray light.
  4. Ellis, Gordon W.; Ichie, Koji, Confocal laser scanning transmission microscope.
  5. Goldstein Seth R. (Bethesda MD), Confocal scanning laser microscope having no moving parts.
  6. Ohki Hiroshi (Yokohama JPX), Confocal type laser scan microscope with integrated illumination, detection and waveguide system.
  7. Buican Tudor N. (Los Alamos NM) Yoshida Thomas M. (Los Alamos NM), Integrated fluorescence analysis system.
  8. Mathies Richard A. (Contra Costa CA) Peck Konan (Contra Costa CA), Laser excited confocal microscope fluorescence scanner and method.
  9. Carlsson Kjell S. (Vallentuna SEX) Aslund Nils R. D. (Stockholm SEX), Method and apparatus for microphotometering microscope specimens.
  10. Takahashi Kazushige (Yokohama JPX), Method and apparatus for three dimensional display with cross section.
  11. Cline Harvey E. (Schenectady NY) Ludke Siegwalt (Scotia NY) Dumoulin Charles L. (Ballston Lake NY) Souza Steven P. (Williamstown MA), Method and apparatus for volumetric projection rendering using reverse ray casting.
  12. Kenyon Christopher (Montreal CAX) Macklem Peter (Montreal CAX) Eidelman David (Montreal CAX), Method for the enhancement of cell images.
  13. Brelje Todd C. (Minneapolis MN) Sorenson Robert L. (Minneapolis MN), Multi-color laser scanning confocal imaging system.
  14. Kimura Shigeharu (Kokubunji JPX) Munakata Chusuke (Nishitama JPX), Scanning laser microscope with aperture alignment.
  15. Jacobsen Wolfgang (Cologne DEX), Spectroscopically correlated light scanning microscopy.
  16. Fountain William D. (Fremont CA), System and method for detecting, correcting and measuring depth movement of target tissue in a laser surgical system.
  17. Denk, Winfried; Strickler, James P.; Webb, Watt W., Two-photon laser microscopy.
  18. Priem Curtis (Fremont CA), Z-buffer allocated for window identification.

이 특허를 인용한 특허 (7)

  1. Rohm Nikki Ruth ; Rice Richard Everett, Curves and surfaces modeling based on a cloud of points.
  2. Worster Bruce W. ; Crane Dale E. ; Hansen Hans J. ; Fairley Christopher R. ; Lee Ken K., Laser imaging system for inspection and analysis of sub-micron particles.
  3. Worster Bruce W. ; Lee Ken K., Method for characterizing defects on semiconductor wafers.
  4. Worster Bruce W. ; Lee Ken K., Method for characterizing defects on semiconductor wafers.
  5. Worster, Bruce W.; Lee, Ken K., Method for characterizing defects on semiconductor wafers.
  6. Han Ke, Ring dilation and erosion techniques for digital image processing.
  7. Buchanan Robert ; Yarussi Richard A. ; Spady Blaine R., System using a polar coordinate stage and continuous image rotation to compensate for stage rotation.
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