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Through-port load carrier and related test apparatus 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-031/02
출원번호 US-0306709 (1994-09-15)
발명자 / 주소
  • Liken Peter A. (West Olive MI) Ensing Steven B. (Wyoming MI)
출원인 / 주소
  • Venturedyne Limited (Milwaukee WI 02)
인용정보 피인용 횟수 : 21  인용 특허 : 0

초록

Disclosed is a load carrier for use with a test chamber. Such carrier includes (a) an insertion portion having a length about equal to the thickness of a chamber wall, (b) a carrier portion extending away from the chamber and (c) a flange interposed between the portions for sealing contact with the

대표청구항

In the combination of a test chamber having an interior wall, an exterior wall and at least one product carrier in the chamber and holding products to be tested, the improvement wherein: the product carrier includes an electrical connector adjacent to the interior wall when the product carrier is po

이 특허를 인용한 특허 (21)

  1. Yamashita, Tsuyoshi; Igarashi, Noriyuki, Apparatus for handling electronic components and method for controlling temperature of electronic components.
  2. Eliashberg Victor M. ; Prakash Kombupalayam M., Apparatus for testing an integrated circuit in an oven during burn-in.
  3. Eliashberg Victor M. ; Prakash Kombupalayam M., Apparatus for testing an integrated circuit in an oven during burn-in.
  4. Eliashberg Victor M. ; Prakash Kombupalayam M., Apparatus for testing an integrated circuit in an oven during burn-in.
  5. Victor M. Eliashberg ; Kombupalayam M. Prakash, Apparatus for testing an integrated circuit in an oven during burn-in.
  6. Yokono Masayuki,JPX, Card array apparatus for mounting in a personal computer.
  7. Little Philip V.,GBX, Connector for airbag gas generator.
  8. Lee Sang Soo,KRX, Device for loading/unloading modular IC to/from socket in modular IC handler.
  9. Terao Masashi,JPX, Device testing apparatus.
  10. Wanek, Donald J.; Swanson, Loren L.; Sands, Richard L.; Troutman, Mark E.; Melville, James A., Environmental test chamber.
  11. Wanek,Donald L.; Swanson,Loren L.; Sands,Richard L.; Troutman,Mark; Melville,James A., Environmental test chamber and a carrier for use therein.
  12. Gauker Bradford K. ; Rhein David J. ; Lapraik Scott J., Grounding plate for orientationless squib connector assembly for automotive air bag assemblies.
  13. Wanek,Donald; Sands,Richard; Walter,Robert; Troutman,Mark, Hard drive test fixture.
  14. Keller, Robert, Heating device for testing integrated components.
  15. Liken,Peter A.; Immink,Darin E., Independently-adjustable circuit board carrier.
  16. Siddiqui, Shakeel M.; Tymofyeyev, Vadim, Method and apparatus to provide a burn-in board with increased monitoring capacity.
  17. Siddiqui,Shakeel M.; Tymofyeyev,Vadim, Method and apparatus to provide a burn-in board with increased monitoring capacity.
  18. Yong Jaimsomporn TH; Tanawat Boutngam TH; Narupon Tabtimted TH, Method and system for adapting burn-in boards to multiple burn-in systems.
  19. Gauker Bradford K. ; Rhein David J., Orientationless squib connector assembly for automotive air bag assemblies.
  20. Gauker Bradford K. ; Rhein David J. ; Lapraik Scott J., Orientationless squib connector assembly for automotive air bag assemblies.
  21. Kim Jin-euk,KRX ; Yoo Dae-geun,KRX ; Nam Chang-woo,KRX, Tester for peripheral storage device.
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