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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0467990 (1995-06-06) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 6 인용 특허 : 0 |
A probe system for reliably monitoring a condition in a metallurgical process is provided which includes a probe having a circuit for generating a low DC voltage signal indicative of a condition in the metallurgical process, and an impedance monitoring circuit electrically connected to the probe cir
A system for monitoring a condition in a metallurgical process, comprising: a probe having a circuit for generating a voltage signal indicative of a condition in a metallurgical process, wherein the magnitude of the voltage signal varies with changes in said condition, and impedance monitoring means
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