검색연산자 | 기능 | 검색시 예 |
---|---|---|
() | 우선순위가 가장 높은 연산자 | 예1) (나노 (기계 | machine)) |
공백 | 두 개의 검색어(식)을 모두 포함하고 있는 문서 검색 | 예1) (나노 기계) 예2) 나노 장영실 |
| | 두 개의 검색어(식) 중 하나 이상 포함하고 있는 문서 검색 | 예1) (줄기세포 | 면역) 예2) 줄기세포 | 장영실 |
! | NOT 이후에 있는 검색어가 포함된 문서는 제외 | 예1) (황금 !백금) 예2) !image |
* | 검색어의 *란에 0개 이상의 임의의 문자가 포함된 문서 검색 | 예) semi* |
"" | 따옴표 내의 구문과 완전히 일치하는 문서만 검색 | 예) "Transform and Quantization" |
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) | G01D-018/00 G01F-025/00 G01F-023/26 G01R-035/00 |
미국특허분류(USC) | 73/1R ; 73/1 ; H ; 73/304 ; C ; 324/679 |
출원번호 | US-0036495 (1993-03-24) |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 | |
인용정보 | 피인용 횟수 : 8 인용 특허 : 18 |
A threshold calibration method and apparatus calibrates a reference voltage representing a selected threshold and compares the reference voltage with a measurement voltage representing a variable parameter to indicate the condition of the variable parameter. The reference voltage is set by causing the variable parameter to assume a predetermined high value and adjusting a first potentiometer to provide a first calibration voltage equal to the measurement voltage representing the high value. The variable parameter is then caused to assume a predetermined ...
A method of comparing a variable parameter with a selected threshold, the method using a measuring circuit for monitoring the variable parameter which represents a range of conditions and a calibration circuit for providing the selected threshold, comprising the steps of: causing the variable parameter to assume a first condition at a predetermined high value of the range, whereupon the measuring circuit monitoring the variable parameter provides a first signal; adjusting the calibration circuit to provide a first calibration value to be equal to the fir...