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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0441140 (1995-05-15) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 17 인용 특허 : 12 |
A highly accurate system to measure the level of material in a vessel. A probe is provided in the vessel. The vessel and the probe are at different potentials so as to create a capacitance therebetween. The air and materials in the vessel act as dielectrics. As the material level varies, so does the
A device for monitoring the level of a material in a container, comprising: probe means for developing a capacitance that varies with the level of material in the container; charging means for subjecting the capacitance to a charge-discharge-charge cycle, wherein the capacitance is linearly charged
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