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Apparatus for measuring surface movement of an object that is subjected to external vibrations 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-009/02
출원번호 US-0381201 (1995-01-31)
발명자 / 주소
  • Kotidis Petros A. (Waban MA) Woodroffe Jaime A. (North Reading MA) Rostler Peter S. (Newton MA)
출원인 / 주소
  • Textron Defense Systems, Division of Avco Corporation (Wilmington MA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 17  인용 특허 : 0

초록

A system for non-destructively measuring an object and controlling industrial processes in response to the measurement is disclosed in which an impulse laser generates a plurality of sound waves over timed increments in an object. A polarizing interferometer is used to measure surface movement of th

대표청구항

Apparatus for measuring surface movement of an object in response to a plurality of periodically spaced externally generated sound waves traveling in said object, said object subjected to externally generated vibrations of a lower frequency than said sound waves, said apparatus comprising; optical h

이 특허를 인용한 특허 (17)

  1. Fan, Liming; Ng, Hon Yu Peter; Zhu, Xianbin; Wong, Yam Mo; Song, Keng Yew, Apparatus for detecting the oscillation amplitude of an oscillating object.
  2. Wang, Haiming; Lee, Shing; Nikoonahad, Mehrdad, Detection of film thickness through induced acoustic pulse-echos.
  3. Meldahl, Paul; Vikhagen, Eiolf, Interferometric methods and apparatus for seismic exploration.
  4. Chan, Helen Lai Wa; Lam, Tin Yan; Chao, Chen; Kwok, Kin Wing, Method and apparatus for measuring oscillation amplitude of an ultrasonic device.
  5. Furukawa, Takashi; Yoneyama, Hiroshi; Horii, Yukihiko; Uesugi, Nobuo, Method and apparatus for visualizing elastic wave propagation in a solid substance.
  6. Wilson, Mark L.; Fritz, Bernard S., Method and device for measuring the velocity of a moving surface.
  7. Zhu, Weiguang; Wang, Zhihong; Chao, Chen; Tan, Ooi Kiang, Method of interferometry with modulated optical path-length difference and interferometer.
  8. Nikoonahad Mehrdad ; Lee Shing ; Wang Haiming, Non-contact system for measuring film thickness.
  9. Manka Charles Keith ; Grun Jacob ; Covington Billy Charles ; Donnelly David William, Non-thermal process for annealing crystalline materials.
  10. Meldahl, Paul; Vikhagen, Eiolf, Seismic exploration.
  11. Meldahl, Paul; Vikhagen, Eiolf; Lokberg, Johan Ole, Seismic exploration.
  12. Chujo, Hideki; Taniguchi, Keitaro; Inoue, Tomohiro, Sheet double feeding detector, method and program of such a device.
  13. Sano, Kazuhide; Hirose, Syunichi, Sheet feeding apparatus, image reading apparatus equipped with the same, and method of detecting double feed.
  14. Sano,Kazuhide; Hirose,Syunichi; Yamashita,Masashi, Sheet feeding apparatus, image reading apparatus, and method of detecting double feed.
  15. Imaino, Wayne Isami; Juliana, Jr., Anthony; Latta, Milton Russell; Lee, Charles H.; Leung, Wai Cheung; Rosen, Hal J.; Meeks, Steven; Sonningfeld, Richard, Surface inspection tool.
  16. Drake, Jr.,Thomas E., System and method for control of paint thickness.
  17. Drake, Jr., Thomas E., System and method for online control of paper elasticity and thickness.
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