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Laser-assisted particle analysis

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B01D-059/44
  • H01J-049/00
출원번호 US-0373732 (1995-01-17)
발명자 / 주소
  • Reents
  • Jr. William D. (Middlesex NJ)
출원인 / 주소
  • Lucent Technologies Inc. (Murray Hill NJ 02)
인용정보 피인용 횟수 : 10  인용 특허 : 7

초록

The present invention provides methods and apparatus for analyzing the particulate contents of a sample such that a high proportion of the sample particles are analyzed without discrimination against high electronegativity and high ionization potential elements. In an exemplary embodiment, the inven

대표청구항

Apparatus for analyzing the particulate content of a sample, the sample particulates having a diameter in a range of 0.001-10 microns, the apparatus comprising: an evacuable chamber, the evacuable chamber including a chamber entrance through which a particle-laden gas stream enters; an inlet device

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Downey Stephen W. (Chatham NJ) Emerson Adrian B. (Piscataway NJ) Mujsce Anthony M. (Berkeley Heights NJ) Muller Amy J. (Warren NJ) Reents ; Jr. William D. (Middlesex NJ) Sinclair James D. (Summit NJ), Laser induced mass spectrometry.
  2. Kitamori Takehiko (Ushiku JPX) Koga Masataka (Katsuta JPX) Nishitarumizu Tsuyoshi (Katsuta JPX) Matsui Tetsuya (Hitachi JPX) Yokose Kenji (Hitachi JPX) Sakagami Masaharu (Katsuta JPX), Method and apparatus for mass spectrometric analysis.
  3. Kaesdorf Stefan (Mnchen DEX) Schrder Hartmut (Mnchen DEX), Method and apparatus of quantitative non-resonant photoionization of neutral particles and the use of such apparatus.
  4. Koga Masataka (Katsuta JPX) Nishitarumizu Tsuyoshi (Katsuta JPX) Matsui Tetsuya (Hitachi JPX) Yokose Kenji (Hitachi JPX) Sakagami Masaharu (Katsuta JPX) Kitamori Takehiko (Ushiku JPX), Method of and apparatus for analyzing granular materials.
  5. Sinha, Mahadeva P.; Giffin, Charles E.; Norris, David D.; Friedlander, Sheldon K., Particle analyzing method and apparatus.
  6. Boesl Ulrich (Sommerstr. 7 8000 Mnchen 90 DEX) Neusser Hans J. (Eggmhlerstr. 6 8000 Mnchen DEX) Schlag Edward W. (Osterwaldstr. 91 8000 Mnchen 40 DEX), Process and apparatus for determining molecule spectra.
  7. Caledonia George E. (Milton MA) Krech Robert H. (Saugus MA) Green Byron D. (Reading MA) Pirri Anthony N. (Andover MA), Source of high flux energetic atoms.

이 특허를 인용한 특허 (10)

  1. Syage, Jack A.; Hanold, Karl A.; Evans, Matthew D.; Liu, Yong, Atmospheric pressure photoionizer for mass spectrometry.
  2. Reents, Jr., William David; Schabel, Michael J, Characterization of individual particle atomic composition by aerosol mass spectrometry.
  3. Syage, Jack A.; Hanning-Lee, Mark A., High dynamic range analog-to-digital converter.
  4. Syage,Jack A.; Hanold,Karl A.; Evans,Matthew D.; Nies,Brian J., Interfaces for a photoionization mass spectrometer.
  5. Reents ; Jr. William David, Laser-assisted particle analysis.
  6. De La Mora Juan Fernandez ; De Juan Luis,FRX ; Eichler Thilo,DEX ; Rosell Joan, Method and apparatus for separation of ions in a gas for mass spectrometry.
  7. Wexler Anthony S. ; Johnston Murray V. ; Carson Peter ; Mallina Ramakrishna, Method and instruments for the on-line detection, sizing or analysis of aerosol particles.
  8. Hanold,Karl A.; Syage,Jack A., Multiple ion sources involving atmospheric pressure photoionization.
  9. Syage Jack A. ; Hanold Karl A. ; Hanning-Lee Mark A., Photoionization mass spectrometer.
  10. Syage Jack A. ; Hanold Karl A., Rapid response mass spectrometer system.
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