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Semiconductor device having a protection circuit, and electronic system including the same

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H02H-005/04
출원번호 US-0010572 (1993-01-28)
우선권정보 JP-0015913 (1992-01-31)
발명자 / 주소
  • Sakamoto Kozo (Hechiouji JPX) Yoshida Isao (Nishitama-gun JPX) Morikawa Masatoshi (Hachiouji JPX) Ohtaka Shigeo (Takasaki JPX) Tsunoda Hideki (Akishima JPX)
출원인 / 주소
  • Hitachi, Ltd. (Tokyo JPX 03) Hitachi VLSI Engineering Corporation (Tokyo JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 14  인용 특허 : 3

초록

In a semiconductor device including a power MOSFET (M0) for the output stage, a temperature detection circuit produces an output signal upon detecting an abnormal rise in the chip temperature, the signal turns on a set input element (M1) in a latch circuit so that the latch circuit becomes a set sta

대표청구항

A semiconductor device comprising: a power MOSFET; an operation state detection circuit which carries out a detecting operation of an electrical signal related to an operation state of said power MOSFET; a latch circuit which latches an output signal from the operation state detection circuit so as

이 특허에 인용된 특허 (3)

  1. Kawahata Sigeyuki (Hitachi JPX) Sugawara Yoshitaka (Hitachi JPX), Flip-flop circuit.
  2. Fay Gary (Scottsdale AZ) McKinnis Steve (Tempe AZ) Soo David H. (Mesa AZ), Low side switch integrated circuit.
  3. Fujimoto Hiroshi (Kariya JPX) Yamaoka Masami (Anjo JPX) Tsuzuki Yukio (Aichi JPX), Power semiconductor apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (14)

  1. Michel, Hartmut; Pluntke, Christian; Thanner, Manfred; Bireckoven, Bernd, Circuit for protection from excess temperature.
  2. Ishikawa, Yasuhisa; Watanabe, Atsushi; Terada, Yukihiro; Ikeuchi, Akira; Oya, Hiroshi, Electrostatic discharge semiconductor protection circuit of reduced area.
  3. Sato, Yutaka; Nagasu, Masahiro; Ishikawa, Katsumi; Saito, Ryuichi; Inarida, Satoru, Fault detection system.
  4. Sato, Yutaka; Nagasu, Masahiro; Ishikawa, Katsumi; Saito, Ryuichi; Inarida, Satoru, Fault detection system.
  5. Sato,Yutaka; Nagasu,Masahiro; Ishikawa,Katsumi; Saito,Ryuichi; Inarida,Satoru, Fault detection system.
  6. Baba, Akira; Nagashima, Yoshikazu; Sugiyama, Kazuto; Mine, Yoshihiko, Method of cutting off circuit under overcurrent, circuit cutting-off device under overcurrent, and method of protecting semiconductor relay system.
  7. Katou,Masanori, Motor controller.
  8. Scilla Giuseppe,ITX, Process-independent thermal protection circuit for microelectronic circuits.
  9. Wu, Kang; Tian, Bo, Protection circuit.
  10. Aiello, Natale; La Barbera, Atanasio; Randazzo, Vincenzo; Torrisi, Giovanni Luca, Protection circuit against high currents in lighting converters.
  11. Adelman, Lonnie W.; King, III, Clarence R.; Regan, Patrick; Ramirez, Jose De Jesus, Safety circuit for charging devices.
  12. Kato, Kiyoshi; Tadokoro, Asami, Semiconductor device.
  13. Kenji Kouno JP, Surge preventing circuit for an insulated gate type transistor.
  14. Meng, Ming, System and method for detecting power integrator malfunction.
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